Characteristics of InGaPN/GaAs heterostructures investigated by photoreflectance spectroscopy

Journal of Applied Physics

Volumn 100, Issue 9, 2006, Pages

  Wang, T S ^a   Lin, K I ^a   Hwang, J S ^a  

^a NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRIC CONDUCTANCE; NITROGEN; PHOTOLUMINESCENCE; SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE; SEMICONDUCTING INDIUM GALLIUM ARSENIDE; SPECTROSCOPIC ANALYSIS; SPECTRUM ANALYSIS;

BAND ALIGNMENTS; EPITAXIAL STRAIN; PHOTOREFLECTANCE (PR); X-RAY ROCKING CURVE (XRC);

HETEROJUNCTIONS;

EID: 33751082630     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2358327     Document Type: Article

References (25)

1. M. Weyer, M. Sato, and H. Ando, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 31, L853 (1992).
2. W. Shan, W. Walukiewicz, J. W. Ager, E. E. Haller, J. F. Geisz, D. J. Friedman, J. M. Olson, and S. R. Kurtz, J. Appl. Phys. 86, 2349 (1999).
3. J. S. Hwang, K. I. Lin, H. C. Lin, S. H. Hsu, K. C. Chen, Y. T. Lu, Y. G. Hong, and C. W. Tu, Appl. Phys. Lett. 86, 061103 (2005).
4. M. Izadifard, J. P. Bergman, W. M. Chen, I. A. Buyanova, Y. G. Hong, and C. W. Tu, J. Appl. Phys. 99, 073515 (2006).
5. H. P. Xin, C. W. Tu, Y. Zhang, and A. Mascarenhas, Appl. Phys. Lett. 76, 1267 (2000).
6. W. Shan, W. Walukiewicz, J. W. Ager III, E. E. Haller, J. F. Geisz, D. J. Friedman, J. M. Olson, and S. R. Kurtz, Phys. Rev. Lett. 82, 1221 (1999).
7. R. J. Welty, Y. G. Hong, H. P. Xin, K. Mochizuki, C. W. Tu, and P. M. Asbeck, Proceedings 2000 IEEE/Cornell University Conference on High Performance Devices, Piscataway, NJ, 2000, pp. 33-40.
8. R. J. Welty, H. P. Xin, K. Mochizuki, C. W. Tu, and P. M. Asbeck, Solid-State Electron. 46, 1 (2002).
9. K. A. Bertness, S. R. Kurtz, D. J. Friedman, A. E. Kibbler, and J. M. Olson, Appl. Phys. Lett. 65, 989 (1994).
10. Z. L. Liau, S. C. Palmateer, S. H. Groves, J. N. Walpole, and L. J. Missaggia, Appl. Phys. Lett. 60, 6 (1992).
11. F. Alsina, N. Mestres, J. Pascual, C. Geng, P. Ernst, and F. Scholz, Phys. Rev. B 53, 12994 (1996).
12. K. I. Lin, J. Y. Lee, T. S. Wang, S. H. Hsu, J. S. Hwang, Y. G. Hong, and C. W. Tu, Appl. Phys. Lett. 86, 211914 (2005).
13. Y. K. Su, C. H. Wu, S. H. Hsu, S. J. Chang, W. C. Chen, Y. S. Huang, and H. P. Hsu, Appl. Phys. Lett. 84, 1299 (2004).
14. H. P. Hsu, Y. S. Huang, C. H. Wu, Y. K. Su, F. S. Juang, Y. G. Hong, and C. W. Tu, J. Phys.: Condens. Matter 16, S3245 (2004).
15. K. I. Lin, T. S. Wang, Y. T. Lu, and J. S. Hwang, J. Appl. Phys. 99, 056103 (2006).
16. J. Misiewicz, P. Sitarek, G. Sek, and R. Kudrawiec, Mater. Sci. 21, 263 (2003).
17. Y. G. Hong, R. Andŕ, and C. W. Tu, J. Vac. Sci. Technol. B 19, 1413 (2001).
18. J. S. Hwang, W. C. Hwang, C. C. Chang, S. C. Chen, and Y. T. Lu, J. Appl. Phys. 89, 396 (2001).
19. K. Ozasa, M. Yuri, S. Tanaka, and H. Matsunami, J. Appl. Phys. 68, 107 (1990).
20. I. Vurgaftman, J. R. Meyer, and L. R. Ram-Mohan, J. Appl. Phys. 89, 5815 (2001).
21. I. Vurgaftman and J. R. Meyer, J. Appl. Phys. 94, 3675 (2003).
22. S. Sanorpim, F. Nakajima, R. Katayama, N. Nakadan, T. Kimura, K. Onabe, and Y. Shiraki, Phys. Status Solidi C 0, 2773 (2003).
23. Y. K. Kuo, B. T. Liou, S. H. Yen, and H. Y. Chu, Opt. Commun. 237, 363 (2004).
24. S.-H. Wei and A. Zunger, Phys. Rev. B 49, 14337 (1994).
25. M. H. Ya, Y. F. Chen, and Y. S. Huang, J. Appl. Phys. 92, 1446 (2002).