Photoreflectance study of the surface state density and distribution function of InAlAs

Journal of Applied Physics

Volumn 89, Issue 1, 2001, Pages 396-400

  Hwang, J S ^a   Hwang, W C ^a   Chang, C C ^a   Chen, S C ^a   Lu, Y T ^a  

^a NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0038568067     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1324682     Document Type: Article

References (25)

1. F. H. Pollak and O. J. Glembocki, in Proceedings of Society of Photooptical Instrumentation Engineers (SPIE, Belligham, 1988), Vol. 946, p. 2.
2. N. Bottka, D. K. Gaskill, R. S. Sillmon, R. Henry, and R. Lesser, J. Electron. Mater. 17, 161 (1988).
3. R. N. Bhattacharys, H. Shen, P. Parayanthal, F. H. Pollak, T. Coutts, and H. Aharoni, Phys. Rev. B 37, 4044 (1988).
4. X. Yin, F. H. Pollak, L. Pawlowicz, T. O'Neill, and M. Hafizi, Appl. Phys. Lett. 56, 1287 (1990).
5. M. Sydor, N. Jahren, W. C. Michel, W. V. Lampert, T. W. Haas, M. Y. Yen, S. M. Mudare, and D. H. Tomich, J. Appl. Phys. 67, 7423 (1990).
6. O. J. Glembocki, B. V. Shanabrook, N. Bottka, W. T. Beard, and J. Comas, Appl. Phys. Lett. 46, 970 (1985).
7. P. Paraynthal, H. Shen, and F. H. Pollak, Appl. Phys. Lett. 48, 1261 (1986).
8. N. Lakshmi Pandey and F. Thomas George, Appl. Phys. Lett. 61, 1081 (1992).
9. S. L. Tyan, M. L. Lee, Y. C. Wang, W. Y. Chou, and J. S. Hwang, J. Vac. Sci. Technol. B 13, 1010 (1995).
10. R. N. Bhattacharya, H. Shen, P. Paraynthal, F. H. Pollak, T. Coutts, and H. Aharoni, Phys. Rev. B 37, 4044 (1988).
11. H. Shen, M. Dutta, L. Fotiadis, P. G. Newman, R. P. Moerkirk, W. H. Chang, and R. N. Sacks, Appl. Phys. Lett. 57, 2118 (1990).
12. J. S. Hwang, W. Y. Chou, S. L. Tyan, H. H. Lin, and T. L. Lee, Appl. Phys. Lett. 67, 2350 (1995).
13. Z. Q. Shi, W. A. Anderson, L. P. Fu, and A. Petrou, Solid-State Electron. 36, 147 (1993).
14. D. E. Aspnes and A. A. Studna, Phys. Rev. B 7, 4605 (1973).
15. M. Chandrasekhar and F. H. Pollak, Phys. Rev. B 15, 2127 (1977).
16. Landolt-Bornstein (Springer, Berlin, 1982), Vol. 17a.
17. X. Yin, H. M. Chen, F. H. Pollak, Y. Chan, P. A. Montano, P. D. Kirchner, G. D. Pettit, and J. M. Woodall, Appl. Phys. Lett. 58, 260 (1991).
18. H. Shen and M. Dutta, J. Appl. Phys. 78, 2151 (1995).
19. See, for example, D. E. Aspnes, in Handbook on Semiconductor, edited by T. S. Moss (North-Holland, New York, 1980), Vol. 2, p. 109, and references therein.
20. E. H. Rhoderick and R. H. Williams, Metal-Semiconductor Contacts (1998).
21. S. M. Sze, in Semiconductor Devices Physics and Technology (1985).
22. H. Shen, P. Parayanthal, Y. F. Liu, and F. H. Pollak, Rev. Sci. Instrum. 58, 1429 (1987).
23. J. S. Hwang, S. L. Tyan, W. Y. Chou, M. L. Lee, H. H. Lin, T. L. Lee, D. Weyburne, and Z. Hang, Appl. Phys. Lett. 64, 3314 (1994).
24. J. S. Hwang, W. Y. Chou, M. C. Hung, J. S. Wang, and H. H. Lin, J. Appl. Phys. 82, 3888 (1997).
25. D. Yan, E. Look, X. Yin, F. H. Pollak, and J. M. Woodall, Appl. Phys. Lett. 65, 186 (1994).