-
2
-
-
0031224097
-
-
Dimitrov, D. V.; Hadjipanayis, G. C.; Papaefthymiou, V.; Simopoulos, A. IEEE Trans. Magn. 1997, 33, 4363.
-
(1997)
IEEE Trans. Magn.
, vol.33
, pp. 4363
-
-
Dimitrov, D.V.1
Hadjipanayis, G.C.2
Papaefthymiou, V.3
Simopoulos, A.4
-
3
-
-
0038897230
-
-
Mathur, S.; Veith, M.; Sivakov, V.; Shen, H.; Huch, V.; Hartmann, U.; Gao, H. Chem. Vap. Deposition 2002, 8, 277.
-
(2002)
Chem. Vap. Deposition
, vol.8
, pp. 277
-
-
Mathur, S.1
Veith, M.2
Sivakov, V.3
Shen, H.4
Huch, V.5
Hartmann, U.6
Gao, H.7
-
6
-
-
0019065648
-
-
Ishii, Y.; Terada, A.; Ishii, O.; Ohta, S.; Hattori, S.; Makino, K. IEEE Trans. Magn. 1980, 16, 1114.
-
(1980)
IEEE Trans. Magn.
, vol.16
, pp. 1114
-
-
Ishii, Y.1
Terada, A.2
Ishii, O.3
Ohta, S.4
Hattori, S.5
Makino, K.6
-
8
-
-
36549094811
-
-
Fujii, T.; Takano, M.; Katano, R.; Bande, Y. J. Appl. Phys. 1989, 66, 3168.
-
(1989)
Appl. Phys.
, vol.66
, pp. 3168
-
-
Fujii, T.1
Takano, M.2
Katano, R.3
Bande, Y.J.4
-
9
-
-
33751031461
-
-
Chen, M. M.; Oritz, C.; Lim, G.; Sigsbee, R.; Castillo, G. IEEE Trans. Magn. 1987, 15, 1549.
-
(1987)
IEEE Trans. Magn.
, vol.15
, pp. 1549
-
-
Chen, M.M.1
Oritz, C.2
Lim, G.3
Sigsbee, R.4
Castillo, G.5
-
10
-
-
0018542993
-
-
Hattori, S.; Ishii, Y.; Shinohara, M.; Nakagawa, T. IEEE Trans. Magn. 1979, 15, 1549.
-
(1979)
IEEE Trans. Magn.
, vol.15
, pp. 1549
-
-
Hattori, S.1
Ishii, Y.2
Shinohara, M.3
Nakagawa, T.4
-
11
-
-
0028393086
-
-
Dhara, S.; Rastogi, A. C.; Das, B. K. Thin Solid Films 1994, 239, 240.
-
(1994)
Thin Solid Films
, vol.239
, pp. 240
-
-
Dhara, S.1
Rastogi, A.C.2
Das, B.K.3
-
12
-
-
23044486890
-
-
Lie, M.; Fjellvåg, H.; Kjekshus, A. Thin Solid Films 2005, 488, 74.
-
(2005)
Thin Solid Films
, vol.488
, pp. 74
-
-
Lie, M.1
Fjellvåg, H.2
Kjekshus, A.3
-
13
-
-
0037180860
-
-
Marco de Ridder, M.; Van De Ven, P. C.; VanWelzenis, R. G.; Brongersma, H. H.; Helfensteyn, S.; Creemers, C.; Van Der Voort, P.; Baltes, M.; Mathieu, M.; Vansant, E. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 13146.
-
(2002)
J. Phys. Chem. B
, vol.106
, pp. 13146
-
-
Marco De Ridder, M.1
Van De Ven, P.C.2
Vanwelzenis, R.G.3
Brongersma, H.H.4
Helfensteyn, S.5
Creemers, C.6
Van Der Voort, P.7
Baltes, M.8
Mathieu, M.9
Vansant, E.F.10
-
14
-
-
0034275294
-
-
Yubero, F.; Ocaña, M.; Justo, A.; Contreras, L.; González-Elipe, A. R. J. Vac. Sci. Technol., A 2000, 18, 2244.
-
(2000)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.18
, pp. 2244
-
-
Yubero, F.1
Ocaña, M.2
Justo, A.3
Contreras, L.4
González-Elipe, A.R.5
-
16
-
-
0029632835
-
-
Fujii, E.; Torii, H.; Tomozawa, A.; Takayama, R.; Hirao, T. J. Cryst. Growth 1995, 151, 134.
-
(1995)
J. Cryst. Growth
, vol.151
, pp. 134
-
-
Fujii, E.1
Torii, H.2
Tomozawa, A.3
Takayama, R.4
Hirao, T.5
-
17
-
-
0029373638
-
-
Rastogi, A. C.; Dhara, S.; Das, B. K. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, 3148.
-
(1995)
J. Electrochem. Soc.
, vol.142
, pp. 3148
-
-
Rastogi, A.C.1
Dhara, S.2
Das, B.K.3
-
18
-
-
0001375238
-
-
Gerlach, D. H.; Peet, W. G.; Muetterties, E. L. J. Am. Chem. Soc. 1972, 94, 4545.
-
(1972)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.94
, pp. 4545
-
-
Gerlach, D.H.1
Peet, W.G.2
Muetterties, E.L.3
-
19
-
-
0036477603
-
-
Choi, H.; Park, S.; Jang, H. G. J. Mater. Res. 2002, 17, 267.
-
(2002)
J. Mater. Res.
, vol.17
, pp. 267
-
-
Choi, H.1
Park, S.2
Jang, H.G.3
-
20
-
-
2142780806
-
-
Wagner, C. D., Riggs, W. M., Davis, L. E., Moulder, J. F., Muilenger, G. E., Eds.; Perkin-Elmer: Eden Prairie, MN
-
Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Wagner, C. D., Riggs, W. M., Davis, L. E., Moulder, J. F., Muilenger, G. E., Eds.; Perkin-Elmer: Eden Prairie, MN, 1979.
-
(1979)
Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy
-
-
-
22
-
-
0141529850
-
-
Choi, H.; Park, S.; Kim, T. H. Chem. Mater. 2003, 15, 3735.
-
(2003)
Chem. Mater.
, vol.15
, pp. 3735
-
-
Choi, H.1
Park, S.2
Kim, T.H.3
-
24
-
-
0001608486
-
-
Schedel-Niedrig, T.; Weiss, W.; Schlögl, R. Phys. Rev. B 1995, 52 (17), 449.
-
(1995)
Phys. Rev. B
, vol.52
, Issue.17
, pp. 449
-
-
Schedel-Niedrig, T.1
Weiss, W.2
Schlögl, R.3
-
25
-
-
0032124150
-
-
Gao, Y.; Kim, Y. J.; Chambers, S. A. J. Mater. Res. 1998, 13, 2003.
-
(1998)
J. Mater. Res.
, vol.13
, pp. 2003
-
-
Gao, Y.1
Kim, Y.J.2
Chambers, S.A.3
|