Crystallization of ZnO on crystalline magnetite nanoparticles in the presence of ultrasound radiation

Crystal Growth and Design

Volumn 6, Issue 10, 2006, Pages 2260-2265

  Turgeman, R ^a   Gedanken, A ^a  

^a BAR ILAN UNIVERSITY   (Israel)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 33750294722     PISSN: 15287483     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cg049692j     Document Type: Article

References (55)

1. Look, D. C. Mater. Sci. Eng., B 2001, 80, 383-387.
2. Chopra, K. L.; Das, S. R. Eds. Thin Film Solar Cells; Plenum: New York, 1983.
3. Karzel, H.; Potzel, W.; Kofferlein, M.; Schiessl, W.; Steiner, M.; Hiller, U.; Kalvius, G. M.; Mitchell, D. W.; Das, T. P.; Blaha, P.; Schwarz, K.; Pasternak, M. P. Phys. Rev. B 1996, 53, 11425-11438.
4. Cho, S.; Ma, J.; Kim, Y.; Sun, Y.; Wong, G. K. L.; Ketterson, J. B. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2761-2763.
5. Kong, L. B.; Li, F.; Zhang, Y.; Yao, X. J. Mater. Sci. Lett. 1998, 17, 769-771.
6. Shih, W. C.; Wu, M. S. J. Cryst. Growth 1994, 137, 319-325.
7. Troy, C. T. Photonics Spectra 1997, 31, 34-34.
8. Vanheusden, K.; Seager, C. H.; Warren, W. L.; Tallant, D. R.; Caruso, J.; Hampden Smith, M. J.; Kodas, T. T. J. Lumin. 1997, 75, 11-16.
9. Bailar, J. C., Emele'us, H. J., Nyholm, R., Trotman-Dickenson, A. F., Eds.; Comprehensive Inorganic Chemistry; Pergamon Press: Oxford, 1973.
10. Hutson, A. R. Phys. Rev. Lett. 1960, 4, 505-507.
11. Gupta, T. K. J. Am. Ceram. Soc. 1990, 73, 1817-1840.
12. Lee, J.; Hwang, J. H.; Mashek, J. J.; Mason, T. O.; Miller, A. E.; Siegel, R. W. J. Mater. Res. 1995, 10, 2295-2300.
13. Jin, Z. C.; Hamberg, I.; Granqvist, C. G.; Sernelius, B. E.; Berggren, K. F. Thin Solid Films 1988, 164, 381-386.
14. Chatterjee, A. P.; Mitra, P.; Mukhopadhyay, A. K. J. Mater. Sci. 1999, 34, 4225-4231.
15. Seiyama, T.; Kato, A.; Fujiishi, K.; Nagatani, M. Anal. Chem. 1962, 34, 1502-1503.
16. Brett, M. J.; Parsons, R. R. Solid State Commun. 1985, 54, 603-606.
17. Urbieta, A.; Fernandez, P.; Hardalov, C.; Piqueras, J.; Sekiguchi, T. Mater. Sci. Eng., B 2002, 91-92, 345-348.
18. Look, D. C.; Reynolds, D. C.; Sizelove, J. R.; Jones, R. L.; Litton, C. W.; Cantwell, G.; Harsch, W. C.; Solid State Commun. 1998, 105, 399-401.
19. Takahashi, N.; Kaiya, K.; Omichi, K.; Nakamura, T.; Okamoto, S.; Yamamoto, H. J. Cryst. Growth 2000, 209, 822-827.
20. Spanhel, L.; Anderson, M. A. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 2826-2833.
21. Carnes, C. L.; Klabunde, K. J. Langmuir 2000, 3764-3772.
22. Suscavage, M.; Harris, M.; Bliss, D.; Yip, P.; Wang, S. Q.; Schwall, D.; Bouthillette, L.; Bailey, J.; Callahan, M.; Look, D. C.; Reynolds, D. C.; Jones, R. L.; Litton, C. W. MRS Internet J. Nitride Semicond. Res. 1999, 4, G 3.40, Suppl. 1.
23. Kortounova, E. V.; Lyutin, V. I. Ann. Chim. Sci. Mat. 1997, 22, 647-650.
24. Nause, J. III-Vs Rev. 1999, 12, 4, 28-31.
25. Kim, J. S.; Marzouk, H. A.; Reucroft, P. J.; Hamrin, C. E. Thin Solid Films 1992, 217, 133-137.
26. Masanobu, I.; Takashi, O. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 2439-2440.
27. Peulon, S.; Lincot, D. J. Electrochem. Soc. 1998, 145, 864-874.
28. Yoshida, T.; Tochimoto, M.; Schlettwein, D.; Wohrle, D.; Sugiura, T.; Minoura, H. Chem. Mater. 1999, 11, 2657-2667.
29. O'Regan, B.; Schwartz, D. T.; Zakeeruddin, S. M.; Gratzel, M. Adv. Mater. 2000, 12, 1263-1267.
30. Ardakani, H. K. Thin Solid Films 1996, 287, 280-283.
31. Valentini, A.; Quaranta, F.; Penza, M.; Rizzi, F. R. J. Appl. Phys. 1993, 73, 1143-1145.
32. Chen, Y. F.; Bagnall, D. M.; Koh, H. J.; Park, K. T.; Hiraga, K.; Zhu, Z. Q.; Yao, T. J. Appl. Phys. 1998, 84, 3912-3918.
33. Chen, Y. F.; Bagnall, D. M.; Zhu, Z. Q.; Sekiuchi, T.; Park, K. T.; Hiraga, K.; Yao, T.; Koyama, S.; Shen, M. Y.; Goto, T. J. Cryst. Growth 1997, 181, 165-169.
34. Kitano, M.; Hamabe, T.; Maede, S. J. Cryst. Growth 1993, 128, 1099-1103.
35. Guo, L.; Ji, L. Y.; Xu, H. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 14864-14865.
36. Tian, Z. R.; Voigt, J. A.; McKenzie, B.; McDermott, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 12954-12955.
37. Choi, K. S.; Lichtenegger, H. C.; Stocky, G. D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 12402-12403.
38. Taubert, A.; Wegner, G. J. Mater. Chem. 2002, 12, 805-807.
39. Kumar, R. V.; Elgamiel, R.; Koltypin, Y.; Norwig, J.; Gedanken, A. J. Cryst. Growth 2003, 250, 409-417.
40. Öner, M.; Norwig, J.; Meyer, W. H.; Wegner, G. Chem. Mater. 1998, 10, 460-463.
41. De Guire, M. R.; Niesen, T. P.; Supothina, S.; Wolff, J.; Bill, J.; Sukenik, C. N.; Aldinger, F.; Heuer, A. H.; Ruble, M. Z. Metallkd. 1998, 89, 758-766.
42. Turgeman, R.; Gershevitz, O.; Palchik, O.; Deutsch, M.; Ocko, B. M.; Gedanken, A.; Sukenik, C. N. Cryst. Growth Des. 2004, 4, 169-175.
43. Seldak, M.; Antonietti, M.; Colfen, H. Macromol. Chem. Phys. 1998, 199, 247-254.
44. Nancollas, G. H., Ed.; Dahlem Workshop on Biological Mineralization and Demineraliazation; Springer-Verlag: Berlin, 1982.
45. Turgeman, R.; Tirosh, S.; Gedanken, A. Chem. - Eur. J. 2004, 10, 1845-1850.
46. Hyeon, T.; Lee, S. S.; Park, J.; Chung, Y.; Bin Na, H. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 12798-12801.
47. Cornell, R. M.; Schwertmann, U. The Iron Oxides; VCH: Berlin, 1996.
48. Feigel, F. Spot Tests, Inorganic Applications; Elsevier Publishing Co.: New York, 1954; Vol. 1, pp 154-155.
49. Pang, G.; Sominska, E.; Colfen, H.; Mastai, Y.; Avivi, S.; Koltypin, Y.; Gedanken, A. Langmuir 2001, 17, 3223.
50. X-ray Data Base: JCPDS-IC 36-1451; International Centre for Diffraction Data: Newtown Square, PA.
51. Leslie-Pelecky, D. L.; Rieke, R. D. Chem. Mater. 1996, 8, 1770-1783.
52. Liu, Z. L.; Liu, Y. J.; Yao, K. L.; Ding, Z. H.; Tao, J.; Wang, X. J. Mater. Synth. Proc. 2002, 10, 2, 83-87.
53. (a) Landau, M. V.; Vradman, L.; Herskowitz, M.; Koltypin, Y.; Gedanken, A. J. Catal. 2001, 201, 1, 22-36.
54. (b) Gedanken, A.; Wang, Y.; Tang, X.; Perkas, N.; Koltypin, Y.; Landau, M. V.; Vradman, L.; Herskowitz, M. Chem - Eur. J. 2001, 7, 4546-4552.
55. Norton, D. P.; Heo, Y. W.; Lvill, M. P.; Lp, K.; Pearton, S. J.; Chisholm, M. F.; Steiner, T. Mater. Today 2004, 7, 6, 34-40.