Probing surface-porphyrazine reduction potentials by molecular design

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 37, 2006, Pages 18151-18153

  Sun, Peng ^a   Zong, Hong ^a   Salaita, Khalid ^a   Ketter, Jacob B ^a   Barrett, Anthony G M ^b   Hoffman, Brian M ^a   Mirkin, Chad A ^a  

^a NORTHWESTERN UNIVERSITY   (United States)

^b IMPERIAL COLLEGE LONDON   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BINDING ENERGY; METAL ANALYSIS; MONOLAYERS; SURFACE PROPERTIES;

ELECTRONVOLT; GOLD SURFACE; MACROCYCLIC CORE; PORPHYRAZINE MONOLAYERS;

X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

EID: 33749595385     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp065089v     Document Type: Article

References (28)

1. (a) Vesper, B. J.; Salaita, K.; Zong, H.; Mirkin, C. A.; Barrett, A. G. M.; Huffman, B. M. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 16653-16658.
2. (b) Michel, S. L. J.; Baum, S.; Barrett, A. G. M.; Hoffman, B. M. Prog. Inorg. Chem. 2001, 50, 473-590.
3. (a) Yasseri, A. A.; Syomin, D.; Malinovskii, V. L.; Loewe, R. S.; Lindsey, J. S.; Zaera, F.; Bocian, D. F. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11944-11953.
4. (b) Liu, Z. M.; Yasseri, A. A.; Lindsey, J. S.; Bocian, D. F. Science 2003, 302, 1543-1545.
5. (c) Clausen, C.; Gryko, D. T.; Dabke, R. B.; Dontha, N.; Bocian, D. F.; Kuhr, W. G.; Lindsey, J. S. J. Org. Chem. 2000, 65, 7363-7370.
6. (d) Gryko, D. T.; Clausen, C.; Roth, K. M.; Dontha, N.; Bocian, D. F.; Kuhr, W. O.; Lindsey, J. S. J. Org. Chem. 2000, 65, 7345-7355.
7. (e) Hutchison, J. E.; Postlethwaite, T. A.; Chen, C. H.; Hathcock, K. W.; Ingram, R. S.; Ou, W.; Linton, R. W.; Murray, R. W.; Tyvoll, D. A.; Chng, L. L.; Collman, J. P. Langmuir 1997, 13, 2143-2148.
8. (f) Postlethwaite, T. A.; Hutchison, J. E.; Hathcock, K. W.; Murray, R. W. Langmuir 1995, 11, 4109-4116.
9. (g) Hutchison, J. E.; Postlethwaite, T. A.; Murray, R. W. Langmuir 1993, 9, 3277-3283.
10. (i) Zak, J.; Yuan, H.; Ho, M.; Woo, L. K.; Porter, M. D. Langmuir 1993, 9, 2772-2774.
11. (a) Van Ryswyk, H.; Moore, E. E.; Joshi, N. S.; Zeni, R. J.; Eberspacher, T. A.; Collman, J. P. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 5827-5830.
12. (b) Eberspacher, T. A.; Collman, J. P.; Chidsey, C. E. D.; Donohue, D. L.; Van Ryswyk, H. Langmuir 2003, 19, 3814-3821.
13. (c) Boeckl, M. S.; Bramblett, A. L.; Hauch, K. D.; Sasaki, T.; Ratner, B. D.; Rogers, J. W. Langmuir 2000, 16, 5644-5653.
14. (d) Rowe, G. K.; Creager, S. E. J. Phys. Chem. 1994, 98, 5500-5507.
15. (e) Rowe, G. K.; Creager, S. E. Langmuir 1991, 7, 2307-2312.
16. (f) Chidsey, C. E. D.; Bertozzi, C. R.; Putvinski, T. M.; Mujsce, A. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 4301-4306.
17. (a) Lamoen, D.; Ballone, P.; Parrinello, M. Phys. Rev. B 1996, 54, 5097-5105.
18. (b) Leung, K.; Rempe, S. B.; Schultz, P. A.; Sproviero, E. M.; Batista, V. S.; Chandross, M. E.; Medforth, C. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 3659-3668.
19. (a) Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y. T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152-7167.
20. (b) Nuzzo, R. G.; Zegarski, B. R.; Dubois, L. H. J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 733-740.
21. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1991, 95, 7017-7021.
22. Hofmann, S. In Practical Surface Analysis, 2nd ed.; Briggs, D., Seah, M. P. Eds.; Wiley: Chichester, 1990.
23. Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y. T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321-335.
24. (a) Caldwell, W. B.; Chen, K. M.; Herr, B. R.; Mirkin, C. A.; Hulteen, J. C.; Van Duyne, R. P. Langmuir 1994, 10, 4109-4115.
25. (b) Herr, B. R.; Mirkin, C. A. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 1157-1158.
26. (c) Caldwell, W. B.; Campbell, D. J.; Chen, K.; Herr, B. R.; Mirkin, C. A.; Malik, A.; Durbin, M. K.; Dutta, P.; Huang, K. G. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 6071-6082.
27. (c) Campbell, D. J.; Herr, B. R.; Hulteen, J. C.; Van Duyne, R. P.; Mirkin, C. A. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 10211-10219.
28. (e) Walter, D. G.; Campbell, D. J.; Mirkin, C. A. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 402-405.