Investigation of dark line defects induced by catastrophic optical damage in broad-area AlGaInP laser diodes

Applied Physics Letters

Volumn 89, Issue 10, 2006, Pages

  Sanayeh, M Bou ^a   Jaeger, A ^a   Schmid, W ^a   Tautz, S ^a   Brick, P ^a   Streubel, K ^a   Bacher, G ^b  

^a OSRAM OPTO SEMICONDUCTORS GMBH   (Germany)

^b UNIVERSITY OF DUISBURG ESSEN   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALUMINUM COMPOUNDS; EPITAXIAL GROWTH; ETCHING; ION BEAMS; ION MICROSCOPES; MAPPING; PHOTOLUMINESCENCE;

CATASTROPHIC OPTICAL DAMAGE (COD); DARK LINE DEFECTS (DLD); EPITAXIAL LAYERS; ION BEAM MICROSCOPY;

SEMICONDUCTOR LASERS;

EID: 33748509120     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2345225     Document Type: Article

References (16)

1. M. Ikeda, Y. Mon, H. Sato, K. Kaneko, and N. Watanabe, Appl. Phys. Lett. 47, 1027 (1985).
2. K. Kobayashi, S. Kawata, A. Gomyo, I. Hino, and T. Suzuki, Electron. Lett. 21, 931 (1985).
3. A. Moser, E.-E. Latta, and D. J. Webb, Appl. Phys. Lett. 55, 1152 (1989).
4. O. Ueda, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 184, 125 (1990).
5. A. Moser and E.-E. Latta, J. Appl. Phys. 71, 4848 (1992).
6. S. Arimoto, M. Yasuda, A. Shima, K. Kadoiwa, T. Kamizato, H. Watanabe, E. Omura, M. Aiga, K. Ikeda, and S. Mitsui, IEEE J. Quantum Electron. 29, 1874 (1993).
7. H. Naito, M. Kume, K. Hamada, H. Shimizu, and G. Kano, IEEE J. Quantum Electron. 25, 1495 (1989).
8. M. Sagawa, K. Hiramoto, T. Toyonaka, K. Shinoda, and K. Uomi, Electron. Lett. 30, 1410 (1994).
9. F. Rinner, J. Rogg, M. T. Kelemen, M. Mikulla, G. Weimann, J. W. Tomm, E. Thamm, and R. Poprawe, J. Appl. Phys. 93, 1848 (2003).
10. K. H. Park, J. K. Lee, D. H. Jang, H. S. Cho, C. S. Park, K. E. Pyun, J. Y. Jeong, S. Nahm, and J. Jeong, Appl. Phys. Lett. 73, 2567 (1998).
11. R. E. Mallard and R. Clayton, Proc. SPIE 3004, 145 (1997).
12. C. H. Henry, P. M. Petroff, R. A. Logan, and F. R. Meritt, J. Appl. Phys. 50, 3721 (1979).
13. O. Ueda, K. Wakao, S. Komiya, A. Yamaguchi, S. Isozumi, and I. Umebu, J. Appl. Phys. 58, 3996 (1985).
14. R. Claus, T. Q. Tien, C. Lienau, J. W. Tomm, P. Brick, N. Linder, B. Mayer, M. Müller, S. Tautz, and W. Schmid, Appl. Phys. Lett. 88, 133513 (2006).
15. F. A. Houle, D. L. Neiman, W. C. Tang, and H. J. Rosen, J. Appl. Phys. 72, 3884 (1992).
16. C. W. Snyder, J. W. Lee, R. Hull, and R. A. Logan, Appl. Phys. Lett. 67, 488 (1995).