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Volumn 100, Issue 1, 2006, Pages

Si nanocrystal based memories: Effect of the nanocrystal density

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ELECTRIC PROPERTIES; MULTILAYERS; SILICA; SILICON; STOICHIOMETRY; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

NANOCRYSTAL DENSITY; OXYGEN PRESSURE; SIOX/SIO2 MULTILAYER STRUCTURE;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 33746214880 PISSN: 00218979 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1063/1.2214300 Document Type: Article

Times cited : (70)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.