Dynamics of stimulated emission in silicon nanocrystals

Applied Physics Letters

Volumn 82, Issue 26, 2003, Pages 4636-4638

  Dal Negro, L ^a,e   Cazzanelli, M ^a   Pavesi, L ^a   Ossicini, S ^b   Pacifici, D ^c   Franzo G ^c   Priolo, F ^c   Iacona, F ^d  

^a UNIVERSITY OF TRENTO   (Italy)

^b UNIVERSITY OF MODENA AND REGGIO EMILIA   (Italy)

^c UNIVERSITY OF CATANIA   (Italy)

^d CNR   (Italy)

^e Massachusetts Institute of Technology Cambridge   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMPLIFICATION; ANNEALING; PLASMA ENHANCED CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; SILICON COMPOUNDS; STIMULATED EMISSION; THIN FILMS;

OPTICAL CONFINEMENT;

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 0038444804     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1586779     Document Type: Article

References (26)

1. P. Ball, Nature (London) 409, 974 (2001).
2. Towards the First Silicon Laser, NATO Science Series, edited by L. Pavesi, S. Gaponenko, and L. Dal Negro (Kluwer, Dordrecht, 2003).
3. L. Pavesi, L. Dal Negro, C. Mazzoleni, G. Franzò, and F. Priolo, Nature (London) 408, 440 (2000).
4. L. Khriachtchev, M. Rasanen, S. Novikov, and J. Sinkkonen, Appl. Phys. Lett. 79, 1249 (2001).
5. M. Nayfeh, S. Rao, N. Barry, A. Smith, and S. Chaieb, Appl. Phys. Lett. 80, 121 (2002).
6. K. Luterova, I. Pelant, I. Mikulskas, R. Tomasiunas, D. Muller, J. J. Grob, J. L. Rehspringer, and B. Hönerlage, J. Appl. Phys. 91, 2896 (2002).
7. A. V. Malko, A. A. Mikhailovsky, M. A. Petruska, J. A. Hollingsworth, H. Htoon, M. G. Bawendi, and V. I. Klimov, Appl. Phys. Lett. 81, 1303. (2002).
8. V. I. Klimov, A. A. Mikhailovsky, S. Xu, A. Malko, J. A. Hollingsworth, C. A. Leatherdale, H. J. Eisler, and M. G. Bawendi, Science 290, 314 (2000).
9. M. V. Wolkin, J. Jorne, P. M. Fauchet, G. Allan, and C. Delerue, Phys. Rev. Lett. 82, 197 (1999).
10. A. B. Filonov, S. Ossicini, F. Bassani, and F. Arnaud d'Avitaya, Phys. Rev. B 65, 195317 (2002).
11. F. Iacona, G. Franzò, and C. Spinella, J. Appl. Phys. 87, 1295 (2000); G. Vijaya Prakash, N. Daldosso, E. Degoli, F. Iacona, M. Cazzanelli, Z. Gaburro, G. Pucker, G. Dalba, F. Rocca, E. Ceretta-Moreira, G. Franzò, D. Pacifici, F. Priolo, C. Arcangeli, A. B. Filonov. S. Ossicini, and L. Pavesi, J. Nanosci. Nanotechnol. 1, 159 (2001).
12. F. Iacona, G. Franzò, and C. Spinella, J. Appl. Phys. 87, 1295 (2000); G. Vijaya Prakash, N. Daldosso, E. Degoli, F. Iacona, M. Cazzanelli, Z. Gaburro, G. Pucker, G. Dalba, F. Rocca, E. Ceretta-Moreira, G. Franzò, D. Pacifici, F. Priolo, C. Arcangeli, A. B. Filonov. S. Ossicini, and L. Pavesi, J. Nanosci. Nanotechnol. 1, 159 (2001).
13. L. Dal Negro, M. Cazzanelli, N. Daldosso, Z. Gaburro, L. Pavesi, F. Priolo, D. Pacifici, G. Franzò, and F. Iacona, Physica E (Amsterdam) 16, 297 (2003).
14. K. L. Shaklee, R. E. Nahaory, and R. F. Leheny, J. Lumin. 7, 284 (1973).
15. J. Valenta, I. Pelant, and J. Linnros, Appl. Phys. Lett. 81, 1396 (2002).
16. L. Dal Negro, P. Bettotti, Z. Gaburro, M. Cazzanelli, L. Pavesi, and D. Pacifici (unpublished).
17. J. Linnros, A. Galeckas, N. Lalic, and V. Grivickas, Thin Solid Films 297, 167 (1997).
18. C. Delerue, M. Lannoo, and G. Allan, Phys. Rev. Lett. 75, 2228 (1995).
19. R. M'Ghaieth, H. Maaref, I. Mihalcescu, and J. C. Vial, Phys. Rev. B 60, 4450 (1999).
20. N. Daldosso, G. Dalba, R. Grisenti, F. Rocca, L. Pavesi, F. Priolo, G. Franzò, and F. Iacona, Physica E (Amsterdam) 16, 321 (2003); M. Luppi and S. Ossicini, Phys. Status Solidi A 197, 251 (2003).
21. N. Daldosso, G. Dalba, R. Grisenti, F. Rocca, L. Pavesi, F. Priolo, G. Franzò, and F. Iacona, Physica E (Amsterdam) 16, 321 (2003); M. Luppi and S. Ossicini, Phys. Status Solidi A 197, 251 (2003).
22. M. Caldas, Phys. Status Solidi B 217, 641 (2000).
23. A. Puzder, A. J. Williamson, J. C. Grossman, and G. Galli, Phys. Rev. Lett. 88, 097401 (2002).
24. F. Zhou and J. D. Head, J. Phys. Chem. B 104, 9981 (2000).
25. R. J. Baierle, M. J. Caldas, E. Molinari, and S. Ossicini, Solid State Commun. 102, 545 (1997).
26. L. Khriachtchev, S. Novikov, and J. Lahtinen, J. Appl. Phys. 92, 5856 (2002).