Effects of the crystallographic orientation of the Al 2O 3 substrate on the structural and the optical properties of ZnO thin films

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 48, Issue 6, 2006, Pages 1570-1573

  Lee, Chongmu ^a   Park, Yeonkyu ^a   Kim, Kyungha ^a  

^a Inha University   (South Korea)

Author keywords

Orientation; PL; Pole figure; Sapphire; XRD; ZnO

Indexed keywords

EID: 33746056450     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (14)

1. H. E. Brown, ZnO Properties and Applications (International Lead Zinc Research Organization, New York, 1976), Chap. 1.
2. D. C. Look, B. Claflim, Ya I. Alivov and S. J. Park, Phys. Stat. Sol.(a) 201, 2203 (2002).
3. K. H. Bang, D. K. Hwang and M. C. Jeong, Solid State Communication 126, 181 (2003).
4. S. J. Kang, J. Y. Choi, D. H. Chang and Yung Sup Yoon, J. Korean Phys. Soc. 47, S589 (2005).
5. C. S. Son, S. M. Kim, Y. H. Kim, S. I. Kim, Y. T. Kim, K. H. Yoon, I. H. Choi and H. C. Lopez, J. Korean Phys. Soc. 45, 685 (2004).
6. F. D. Paraguay, W. L Estrada, D. R. N. Acosta, E. Andrade and M. Miki-Yoshida, Thin Solid Films 350, 192 (1999).
7. M. N. Kamalasanan and S. Chandra, Thin Solid Films 288, 112 (1996).
8. J. M. Lim, K. C. Shin, H. W. Kim and C. M. Lee, J. Luminescence 109, 181 (2004).
9. J. Lim, K. Shin, H. Kim and C. Lee, Thin Solid Films 475, 256 (2005).
10. L. Niinisto, M. Ritala and M. Leskela, Mat. Sci & Eng. B 41, 23 (1996).
11. Y. E. Lee, H. J. Kim, H. K. Yang, J. C. Park, Y. T. Kim and Y. J. Kim, Kor. J. Mater. Res. 6, 341 (1996).
12. T. Y. Kim, S. H. Lee, Y. H. Mo, K. S. Nahm, J. Y. Kim, H. W. Shim and E. K. Suh, J. Korean Phys. Soc. 44, 137 (2004).
13. K. Nakahara, H. Takasu, P. Fons, K. Iwata, A. Yamada, K. Matsubara, R. Hunger and S. Niki, J. Cryst. Growth 923, 227 (2001).
14. C. R. Gorla, N. W. Emanetoglu and S. Liang, J. Appl. Phys. 85, 2595 (1996).