Direct observation of photoinduced charge redistribution of WO3 -TiO2 double layer nanocomposite films by photoassisted Kelvin force microscopy

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 21, 2006, Pages

  Wang, S J ^a   Cheng, G ^a   Jiang, X H ^a   Li, Y C ^a   Huang, Y B ^a   Du, Z L ^a  

^a HENAN UNIVERSITY   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHARGE TRANSFER; ELECTRON ENERGY ANALYZERS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; TITANIUM DIOXIDE; TUNGSTEN COMPOUNDS; ULTRAVIOLET RADIATION;

DOUBLE LAYERS; KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY (KFM); NANOPARTICLES; PHOTOINDUCED CHARGE TRANSFER;

SEMICONDUCTING FILMS;

EID: 33744526527     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2207498     Document Type: Article

References (21)

1. M. R. Hoffmann, S. T. Martin, W. Choi, and D. W. Bahnemann, Chem. Rev. (Washington, D.C.) 95, 69 (1995).
2. I. Nova, L. Lietti, E. Tronconi, and P. Forzatti, Catal. Today 60, 73 (2000).
3. M. Miyauchi, A. Nakajima, T. Watanabe, and K. Hashimoto, Chem. Mater. 14, 4714 (2002).
4. T. Tatsuma, S. Saitoh, P. Ngaotrakanwiwat, Y. Ohko, and A. Fujishima, Langmuir 18, 7777 (2002).
5. T. He, Y. Ma, Y. Cao, X. L. Hu, H. M. Liu, G. J. Zhang, W. S. Yang, and J. N. Yao, J. Phys. Chem. B 106, 12670 (2002).
6. Y. P. He, Z. Y. Wu, L. M. Fu, C. R. Li, Y. M. Miao, L. Cao, H. M. Fan, and B. S. Zou, Chem. Mater. 15, 4039 (2003).
7. S. J. Wang, X. T. Zhang, G. Cheng, X. H. Jiang, Y. C. Li, Y. B. Huang, and Z. L. Du, Chem. Phys. Lett. 405, 63 (2005).
8. M. Nonnenmacher, M. P. O'Boyle, and H. K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 58, 2921 (1991).
9. S. Ono, M. Takeuchi, and T. Takahashi, Ultramicroscopy 91, 127 (2002).
10. H. Sugimura, Y. Ishida, K. Hayashi, O. Takai, and N. Nakagiri, Appl. Phys. Lett. 80, 1459 (2002).
11. M. A. Salem, H. Mizuta, and S. Oda, Appl. Phys. Lett. 85, 3262 (2004).
12. T. Yamauchi, M. Tabuchi, and A. Nakamura, Appl. Phys. Lett. 84, 3834 (2004).
13. C. R. Barry, J. Gu, and H. O. Jacobs, Nano Lett. 5, 2078 (2005).
14. F. T. Xu, S. M. Thaler, C. A. Lopez, J. A. Barnard, A. Butera, and J. L. Weston, Appl. Phys. Lett. 86, 074105 (2005).
15. A. C. Prison, O. Vatel, M. Tanimoto, H. L. Wamura, and H. Kanbe, Appl. Phys. Lett. 67, 3069 (1995).
16. T. Meoded, R. Shikler, N. Fried, and Y. Rosenwaks, Appl. Phys. Lett. 75, 2435 (1999).
17. B. S. Simpkins, E. T. Yu, U. Chowdhury, M. M. Wong, T. G. Zhu, D. W. Yoo, and R. D. Dupuis, J. Appl. Phys. 95, 6225 (2004).
18. M. J. Klopfstein and D. A. Lucca, Appl. Phys. Lett. 87, 131906 (2005).
19. C. X. Lian and H. L. Xing, Appl. Phys. Lett. 88, 022112 (2006).
20. J. Cao, J. Z. Sun, J. Hong, X. G. Yang, H. Z. Chen, and M. Wang, Appl. Phys. Lett. 83, 1896 (2003).
21. M. Sun, N. Xu, Y. W. Cao, J. N. Yao, and E. G. Wang, J. Mater. Res. 15, 4 (2000).