Effect of ozone oxidation on single-walled carbon nanotubes

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 110, Issue 14, 2006, Pages 7113-7118

  Simmons, J M ^a   Nichols, B M ^a   Baker, S E ^a   Marcus, Matthew S ^a   Castellini, O M ^a   Lee, C S ^a   Hamers, R J ^a   Eriksson, M A ^a  

^a UNIVERSITY OF WISCONSIN MADISON   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FERMI LEVEL; OXIDATION; OZONE; ULTRAVIOLET RADIATION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

CHEMICAL FUNCTIONALIZATION; DEFECT DENSITY; OXIDATION RATE; THERMAL-BUDGET PROCESSING;

CARBON NANOTUBES;

EID: 33646271622     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0548422     Document Type: Article

References (62)

1. Bradley, K.; Briman, M.; Star, A.; Gruner, G. Nano Lett. 2004, 4, 253.
2. Kong, J.; Franklin, N. R.; Zhou, C.; Chapline, M. G.; Peng, S.; Cho, K.; Dai, H. Science 2000, 287, 622.
3. Novak, J. P.; Snow, E. S.; Houser, E. J.; Park, D.; Stepnowski, J. L.; McGill, R. A. Appl. Phys. Lett. 2003, 83, 4026.
4. Picozzi, S.; Santucci, S.; Lozzi, L.; Valentini, L.; Delley, B. J. Chem. Phys. 2004, 120, 7147.
5. Santucci, S.; Picozzi, S.; Di Gregorio, F.; Lozzi, L.; Cantalini, C.; Valentini, L.; Kenny, J. M.; Delley, B. J. Chem. Phys. 2003, 119, 10904.
6. Valentini, L.; Cantalini, C.; Armentano, I.; Kenny, J. M.; Lozzi, L.; Santucci, S. J. Vac. Sci. Technol. B 2003, 21, 1996.
7. Savage, T.; Bhattacharya, S.; Sadanadan, B.; Gaillard, J.; Tritt, T. M.; Sun, Y. P.; Wu, Y.; Nayak, S.; Car, R.; Marzari, N.; Ajayan, P. M.; Rao, A. M. J. Phys.-Condens. Matter 2003, 15, 5915.
8. Heinze, S.; Tersoff, J.; Martel, R.; Derycke, V.; Appenzeller, J.; Avouris, P. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 106801.
9. Cui, X. D.; Freitag, M.; Martel, R.; Brus, L.; Avouris, P. Nano Lett. 2003, 3, 783.
10. Jhi, S. H.; Louie, S. G.; Cohen, M. L. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 1710.
11. Sorescu, D. C.; Jordan, K. D.; Avouris, P. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 11227.
12. Zhao, J.; Buldum, A.; Han, J.; Lu, J. P. Nanotechnology 2002, 13, 195.
13. Ulbricht, H.; Moos, G.; Hertel, T. Phys. Rev. B 2002, 66, 075404.
14. Bahr, J. L.; Tour, J. M. J. Mater. Chem. 2002, 12, 1952.
15. Banerjee, S.; Kahn, M. G. C.; Wong, S. S. Chem.-Eur. J. 2003, 9, 1899.
16. Chen, Y.; Haddon, R. C.; Fang, S.; Rao, A. M.; Eklund, P. C.; Lee, W. H.; Dickey, E. C.; Grulke, E. A.; Pendergrass, J. C.; Chavan, A.; Haley, B. E.; Smalley, R. E. J. Mater. Res. 1998, 13, 2423.
17. Hirsch, A. Angew. Chem., Int. Ed. 2002, 41, 1853.
18. Hansen, R. W. C.; Wolske, J.; Wallace, D.; Bissen, M. Nucl. Instrum. Methods A 1994, 347, 249.
19. McIntyre, N. S.; Davidson, R. D.; Walzak, T. L.; Williston, R.; Westcott, M.; Pekarsky, A. J. Vac. Sci. Technol. A 1991, 9, 1355.
20. Vig, J. R. J. Vac. Sci. Technol. A 1985, 3, 1027.
21. Calvert, J. G.; Pitts, J. N., Jr. Photochemistry; John Wiley & Sons: New York, 1966.
22. Criegee, R. Angew. Chem., Int. Ed. 1975, 14, 745.
23. Heymann, D.; Bachilo, S. M.; Weisman, R. B.; Cataldo, F.; Fokkens, R. H.; Nibbering, N. M. M.; Vis, R. D.; Chibante, L. P. F. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 11473.
24. Lu, X.; Chen, Z.; Schleyer, P. v. R. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 20.
25. Yim, W. L.; Liu, Z. F. Chem. Phys. Lett. 2004, 398, 297.
26. Lu, X.; Zhang, L.; Xu, X.; Wang, N.; Zhang, Q. J. Phys. Chem. B 2002, 706, 2136.
27. Chan, S. P.; Chen, G.; Gong, X. G.; Liu, Z. F. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 086403.
28. Ajayan, P. M.; Ebbesen, T. W.; Ichihashi, T.; Iijima, S.; Tanigaki, K.; Hiura, H. Nature 1993, 362, 522.
29. Borowiak-Palen, E.; Pichler, T.; Liu, X.; Knupfer, M.; Graff, A.; Jost, O.; Pompe, W.; Kalenczuk, R. J.; Fink, J. Chem. Phys. Lett. 2002, 363, 567.
30. Wiltshire, J. G.; Khlobystov, A. N.; Li, L. J.; Lyapin, S. G.; Briggs, G. A. D.; Nicholas, R. J. Chem. Phys. Lett. 2004, 386, 239.
31. Banerjee, S.; Hemraj-Benny, T.; Balasubramanian, M.; Fischer, D. A.; Misewich, J. A.; Wong, S. S. Chem. Commun. 2004, 772.
32. Cai, L.; Bahr, J. L.; Yao, Y.; Tour, J. M. Chem. Mater. 2002, 14, 4235.
33. Deng, J. P.; Mou, C. Y.; Han, C. C. Fullerene Sci. Technol. 1997, 5, 1033.
34. Rung, S. C.; Hwang, K. C.; Lin, I. N. Appl. Phys. Lett. 2002, 80, 4819.
35. Kuznetsova, A.; Mawhinney, D. B.; Naumenko, V.; Yates, J. T., Jr.; Liu, J.; Smalley, R. E. Chem. Phys. Lett. 2000, 321, 292.
36. Kuznetsova, A.; Popova, I.; Yates, J. T., Jr.; Bronikowski, M. J.; Huffman, C.; Liu, J.; Smalley, R. E.; Hwu, H. H.; Chen, J. G. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 10699.
37. Kuznetsova, A.; Yates, J. T., Jr.; Simonyan, V. V.; Johnson, J. K.; Huffman, C. B.; Smalley, R. E. J. Chem. Phys. 2001, 115, 6691.
38. Mawhinney, D. B.; Naumenko, V.; Kuznetsova, A.; Yates, J. T., Jr.; Liu, J.; Smalley, R. E. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 2383.
39. Byl, O.; Liu, J.; Yates, J. T., Jr. Langmuir 2005, 21, 4200.
40. We use the term "ozone oxidation" throughout this report, but it should be remembered that the oxidizing species could be singlet oxygen created by dissociating ozone.
41. Min, Y., S.; Bae, E. J.; Park, W. J7. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 8300.
42. Heeg, J.; Kramer, C.; Wolter, M.; Michaelis, S.; Plieth, W.; Fischer, W.-J. Appl. Surf. Sci. 2001, 180, 36.
43. Chen, R. J.; Franklin, N. R.; Kong, J.; Cao, J.; Tombler, T. W.; Zhang, Y.; Dai, H. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 2258.
44. Georgakilas, V.; Kordatos, K.; Prato, M.; Guldi, D. M.; Holzinger, M.; Hirsch, A. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 760.
45. Kong, J.; Cassell, A. M.; Dai, H. J. Chem. Phys. Lett. 1998, 292, 567.
46. Rinzler, A. G.; Liu, J.; Dai, H.; Nikolaev, P.; Huffman, C. B.; Rodriguez-Macias, F. J.; Boul, P. J.; Lu, A. H.; Heymann, D.; Colbert, D. T.; Lee, R. S.; Fischer, J. E.; Rao, A. M.; Eklund, P. C.; Smalley, R. E. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 1998, 67, 29.
47. Chiang, I. W.; Brinson, B. E.; Smalley, R. E.; Margrave, J. L.; Hauge, R. H. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 1157.
48. Corio, P.; Santos, P. S.; Pimenta, M. A.; Dresselhaus, M. S. Chem. Phys. Lett. 2002, 360, 557.
49. Yu, Z.; Brus, L. E. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 10995.
50. Zhang, L.; Li, H.; Yue, K. T.; Zhang, S. L.; Wu, X.; Zi, J.; Shi, Z.; Gu, Z. Phys. Rev. B 2002, 65, 073401.
51. Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G.; Jorio, A.; Souza Filho, A. G.; Pimenta, M. A.; Saito, R. Acc. Chem. Res. 2002, 35, 1070.
52. Jorio, A.; Souza Filho, A. G.; Dresselhaus, M.; Dresselhaus, M. S.; Swan, A. K.; Unlu, M. S.; Goldberg, B. B.; Pimenta, M. A.; Hafner, J. H.; Lieber, C. M.; Saito, R. Phys. Rev. B 2002, 65, 155412.
53. Pimenta, M. A.; Jorio, A.; Brown, S. D. M.; Souza Filho, A. G.; Dresselhaus, G.; Hafner, J. H.; Lieber, C. M.; Saito, R.; Dresselhaus, M. S. Phys. Rev. B 2001, 64, 041401.
54. Itkis, M. E.; Perea, D. E.; Jung, R.; Niyogi, S.; Haddon, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 3439.
55. Banerjee, S.; Hemraj-Benny, T.; Balasubramanian, M.; Fischer, D. A.; Misewich, J. A.; Wong, S. S. ChemPhysChem 2004, 5, 1416.
56. Banerjee, S.; Wong, S. S. Nano Lett. 2004, 4, 1445.
57. Gogotsi, Y. G.; Yoshimura, Y. Nature 1994, 367, 628.
58. Ramsteiner, M.; Wagner, J. Appl. Phys. Lett. 1987, 51, 1355.
59. Briggs, D.; Riviere, J. C. Spectral Interpretation. In Practical Surface Analysis; Briggs, D., Seah, M. P., Eds.; John Wiley & Sons: New York, 1990; Vol. 2, p 85.
60. Bianconi, A.; Hagstrom, S. B. M.; Bachrach, R. Z. Phys. Rev. B 1977, 16, 5543.
61. Ago, H.; Kugler, T.; Cacialli, F.; Salaneck, W. R.; Shaffer, M. S. P.; Windle, A. H.; Friend, R. H. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 8116.
62. Picozzi, S.; Santucci, S.; Lozzi, L.; Cantalini, C.; Baratto, C.; Sberveglieri, G.; Armentano, I.; Kenny, J. M.; Valentini, L.; Delley, B. J. Vac. Sci. Technol. A 2004, 22, 1466.