-
1
-
-
0001753504
-
-
(a) Cullis, A. G.; Canham, L. T.; Calcott, P. D. J. J. Appl. Phys. 1997, 82, 909.
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 909
-
-
Cullis, A.G.1
Canham, L.T.2
Calcott, P.D.J.3
-
2
-
-
0004140205
-
-
Canham, L. T., Ed.; EMIS Data review Series No. 18, INSPEC: London
-
Properties of Porous Silicon; Canham, L. T., Ed.; EMIS Data review Series No. 18, INSPEC: London, 1997.
-
(1997)
Properties of Porous Silicon
-
-
-
3
-
-
4043113976
-
-
See, for example: Calcott, P. D. J.; Nash, K. J.; Canham, L. T.; Kane, M. J.; Brumhead, D. J. Phys Conds. Matter. 1993, 5, L91.
-
(1993)
J. Phys Conds. Matter.
, vol.5
-
-
Calcott, P.D.J.1
Nash, K.J.2
Canham, L.T.3
Kane, M.J.4
Brumhead, D.5
-
4
-
-
0027699024
-
-
Calcott, P. D. J.; Nash, K. J.; Canham, L. T.; Kane, N. J.; Brumhead, D. J. Lumin. 1993, 57, 257.
-
(1993)
J. Lumin.
, vol.57
, pp. 257
-
-
Calcott, P.D.J.1
Nash, K.J.2
Canham, L.T.3
Kane, N.J.4
Brumhead, D.5
-
5
-
-
0000263668
-
-
Nash, K. J.; Calcott, P. D. J.; Canham, L. T.; Needs, R. J. Phys. Rev. B. 1995, 51, 17698.
-
(1995)
Phys. Rev. B.
, vol.51
, pp. 17698
-
-
Nash, K.J.1
Calcott, P.D.J.2
Canham, L.T.3
Needs, R.J.4
-
6
-
-
0001753504
-
-
Cullis, A. G.; Canham, L. T.; Calcott, P. D. J. Appl. Phys. 1997, 82, 909.
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 909
-
-
Cullis, A.G.1
Canham, L.T.2
Calcott, P.D.3
-
7
-
-
4243835074
-
-
(a) Schuppler, S.; Friedman, S. L.; Marcus, M. A.; Adler, D. L.; Xie, Y. H.; Ross, F. M.; Chabal, Y. J.; Harris, T. D.; Brus, L. E.; Brown, W. L.; Chaban, E. E.; Szajowski, P. J.; Christman, S. B.; Citrin, P. H. Phys. Rev. B. 1995, 52, 4910.
-
(1995)
Phys. Rev. B.
, vol.52
, pp. 4910
-
-
Schuppler, S.1
Friedman, S.L.2
Marcus, M.A.3
Adler, D.L.4
Xie, Y.H.5
Ross, F.M.6
Chabal, Y.J.7
Harris, T.D.8
Brus, L.E.9
Brown, W.L.10
Chaban, E.E.11
Szajowski, P.J.12
Christman, S.B.13
Citrin, P.H.14
-
8
-
-
0028407103
-
-
(b) Schuppler, S.; Friedman, S. L.; Marcus, M. A.; Adler, D. L.; Xie, Y. H.; Ross, E. M.; Harris, T. D.; Brown, W. L.; Brus, L. E.: Citrin, P. H. Phys. Rev. Lett. 1994, 72, 2648.
-
(1994)
Phys. Rev. Lett.
, vol.72
, pp. 2648
-
-
Schuppler, S.1
Friedman, S.L.2
Marcus, M.A.3
Adler, D.L.4
Xie, Y.H.5
Ross, E.M.6
Harris, T.D.7
Brown, W.L.8
Brus, L.E.9
Citrin, P.H.10
-
9
-
-
0005944794
-
-
Xie, Y. H.; Wilson, W. L.; Ross, F. M.; Mucha, J. A.; Fitzgerald, E. A.; Macauley, J. M.; Harris, T. D. J. Appl. Phys. 1992, 71, 2403.
-
(1992)
J. Appl. Phys.
, vol.71
, pp. 2403
-
-
Xie, Y.H.1
Wilson, W.L.2
Ross, F.M.3
Mucha, J.A.4
Fitzgerald, E.A.5
Macauley, J.M.6
Harris, T.D.7
-
10
-
-
0000317389
-
-
Prokes, S. M.; Glembocki, O. J.; Bermudez, V. M.; Kaplan, R.; Friedersdorf, L. E.; Jearson, P. C. Phys. Rev. B 1992, 45, 13788.
-
(1992)
Phys. Rev. B
, vol.45
, pp. 13788
-
-
Prokes, S.M.1
Glembocki, O.J.2
Bermudez, V.M.3
Kaplan, R.4
Friedersdorf, L.E.5
Jearson, P.C.6
-
12
-
-
0027150810
-
-
Fuchs, H. D.; Rosenbauer, M.; Brandt, M. S.; Ernst, S.; Finkbeiner, S.; Stutzmann, M.; Syassen, K.; Weber, J.; Queisser, H. J.; Cardona, M. Mater. Res. Soc. Proc. 1993, 283, 203.
-
(1993)
Mater. Res. Soc. Proc.
, vol.283
, pp. 203
-
-
Fuchs, H.D.1
Rosenbauer, M.2
Brandt, M.S.3
Ernst, S.4
Finkbeiner, S.5
Stutzmann, M.6
Syassen, K.7
Weber, J.8
Queisser, H.J.9
Cardona, M.10
-
13
-
-
0027699902
-
-
Stutzmann, M.; Brandt, M. S.; Rosenbauer, M.; Fuchs, H. D.; Finkbeiner, S.; Weber, J.; Deak, P. J. Lumin. 1993, 57, 321.
-
(1993)
J. Lumin.
, vol.57
, pp. 321
-
-
Stutzmann, M.1
Brandt, M.S.2
Rosenbauer, M.3
Fuchs, H.D.4
Finkbeiner, S.5
Weber, J.6
Deak, P.7
-
15
-
-
0029307857
-
-
Steckl, A. J.; Xu, J.; Mogul, H. C.; Prokes, S. M. J. Electrochem. Soc. 1995, 142, L69-71.
-
(1995)
J. Electrochem. Soc.
, vol.142
-
-
Steckl, A.J.1
Xu, J.2
Mogul, H.C.3
Prokes, S.M.4
-
17
-
-
0542408708
-
-
Gole, J. L.; Dudel, F. P.; Grantier, D. R.; Dixon, D. A. Phys. Rev. B 1997, 56, 2137.
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.56
, pp. 2137
-
-
Gole, J.L.1
Dudel, F.P.2
Grantier, D.R.3
Dixon, D.A.4
-
19
-
-
0029276051
-
-
Brus, L. E.; Szajowski, P. F.; Wilson, W. L.; Harris, T. D.; Schuppler, S.; Citrin, P. H. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 2915.
-
(1995)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.117
, pp. 2915
-
-
Brus, L.E.1
Szajowski, P.F.2
Wilson, W.L.3
Harris, T.D.4
Schuppler, S.5
Citrin, P.H.6
-
21
-
-
0034140953
-
-
H-A Rifai, M.; Christopher, M.; Ottow, S.; Carstensen, J.; Föll, H. J. Electrochem. Soc. 2000, 147, 627-635.
-
(2000)
J. Electrochem. Soc.
, vol.147
, pp. 627-635
-
-
H-A Rifai, M.1
Christopher, M.2
Ottow, S.3
Carstensen, J.4
Föll, H.5
-
23
-
-
0001753504
-
-
and references therein
-
Cullis, A. G.; Canham, L. T.; Calcott, P. D. J. J. Appl. Phys. 1997, 82, 909 and references therein.
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 909
-
-
Cullis, A.G.1
Canham, L.T.2
Calcott, P.D.J.3
-
26
-
-
36449003208
-
-
Searson, P. C., Macaulay, J. M.; Ross, F. M. J. Appl. Phys. 1992, 72, 253.
-
(1992)
J. Appl. Phys.
, vol.72
, pp. 253
-
-
Searson, P.C.1
Macaulay, J.M.2
Ross, F.M.3
-
29
-
-
0028420062
-
-
Levy-Clement, C.; Lagoubi, A.; Tomkiewicz, M. J. Electrochem. Soc. 1994, 141, 958.
-
(1994)
J. Electrochem. Soc.
, vol.141
, pp. 958
-
-
Levy-Clement, C.1
Lagoubi, A.2
Tomkiewicz, M.3
-
33
-
-
21844461347
-
-
Gole, J. L.; Seals, L.; DeVincentis, J. A.; Lillehei, P.; Prokes, S. M.; Dixon, D. A. Phys. Rev. B 2000, 61, 5625.
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.61
, pp. 5625
-
-
Gole, J.L.1
Seals, L.2
Devincentis, J.A.3
Lillehei, P.4
Prokes, S.M.5
Dixon, D.A.6
-
34
-
-
0033075539
-
-
Gole, J. L.; DeVincentis, J. A.; Seals, L. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 979.
-
(1999)
J. Phys. Chem. B
, vol.103
, pp. 979
-
-
Gole, J.L.1
Devincentis, J.A.2
Seals, L.3
-
37
-
-
84906369372
-
-
Frederiksen, J. T.; Melcher, P. G.; Veje, E. Phys Rev. B, 1998, 58, 802.
-
(1998)
Phys Rev. B
, vol.58
, pp. 802
-
-
Frederiksen, J.T.1
Melcher, P.G.2
Veje, E.3
-
39
-
-
14344276120
-
-
Gole, J. L.; Lillehei, P.; Seals, L.; DeVincentis, J. A.; Narasimha, S. Phys. Rev. B 2000, 61, 7589.
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.61
, pp. 7589
-
-
Gole, J.L.1
Lillehei, P.2
Seals, L.3
Devincentis, J.A.4
Narasimha, S.5
-
40
-
-
0030835216
-
-
Collins, R. T., Fauchet. P. M.; Tischler, M. A. Phys. Today 1997, 50(1), 24.
-
(1997)
Phys. Today
, vol.50
, Issue.1
, pp. 24
-
-
Collins, R.T.1
Fauchet, P.M.2
Tischler, M.A.3
-
41
-
-
0032166799
-
-
See, for example: Gole, J. L.; Dudel, F.; Seals, L.; Reiger, M.; Kohi, P.; Bottomley, L. A. J. Electrochem. Soc. 1998, 145, 3284.
-
(1998)
J. Electrochem. Soc.
, vol.145
, pp. 3284
-
-
Gole, J.L.1
Dudel, F.2
Seals, L.3
Reiger, M.4
Kohi, P.5
Bottomley, L.A.6
-
42
-
-
84906392630
-
-
Egeberg, R. C.; Veje, E. Additional sample testing
-
Egeberg, R. C.; Veje, E. Additional sample testing.
-
-
-
-
43
-
-
0000683123
-
-
Kanemitsu, Y.; Uto, H.; Masumoto, Y.; Futagi, T.; Mimura, H. Phys. Rev. B 1993, 48, 2827.
-
(1993)
Phys. Rev. B
, vol.48
, pp. 2827
-
-
Kanemitsu, Y.1
Uto, H.2
Masumoto, Y.3
Futagi, T.4
Mimura, H.5
-
44
-
-
0029310067
-
-
von Behren, J.; Ucer, K. B.; Tsybeskov, L.; Vandyshev, J. V.; Fauchet, P. M. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 13, 1225.
-
(1995)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.13
, pp. 1225
-
-
Von Behren, J.1
Ucer, K.B.2
Tsybeskov, L.3
Vandyshev, J.V.4
Fauchet, P.M.5
-
45
-
-
0016092709
-
-
Andersen, N.; Jensen, K.; Jepsen, J.; Melskens, J.; Veje, E. Appl. Opt. 1974, 13, 1965.
-
(1974)
Appl. Opt.
, vol.13
, pp. 1965
-
-
Andersen, N.1
Jensen, K.2
Jepsen, J.3
Melskens, J.4
Veje, E.5
-
46
-
-
0000871991
-
-
Ferreira da Silva, A.; Veissid, N.; An, C. Y.; Pepe, I.; Barros de Oliveira, N.; Batista da Silva, A. V. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 1930.
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.69
, pp. 1930
-
-
Ferreira Da Silva, A.1
Veissid, N.2
An, C.Y.3
Pepe, I.4
De Barros Oliveira, N.5
Batista Da Silva, A.V.6
-
47
-
-
84906366766
-
-
Ferreira da Silva, A.; Persson, C.; Berggren, K. F.; Pepe, I.; Santos Alves, A.; deOliveira, A. G. Microelectron. Eng. 1998, 407, 43-44.
-
(1998)
Microelectron. Eng.
, vol.407
, pp. 43-44
-
-
Ferreira Da Silva, A.1
Persson, C.2
Berggren, K.F.3
Pepe, I.4
Santos Alves, A.5
DeOliveira, A.G.6
-
49
-
-
0004140843
-
-
Imperial College Press: London, England
-
Bube, R. H. Photovoltaic Materials; Imperial College Press: London, England, 1998.
-
(1998)
Photovoltaic Materials
-
-
Bube, R.H.1
-
50
-
-
84906364410
-
-
note
-
The descriptions refer to the ideal case of a bulk semiconductor with well-ordered crystal structures versus the current thin films of a disordered material. The concept of a k-vector breaks down as does the foundation for discussion in terms of a direct versus indirect band gap. The concept of electric dipole allowed or forbidden transitions should be applied; such processes are not phonon assisted.
-
-
-
-
51
-
-
0028515373
-
-
Note, however: Kontkiewicz, A. J.; Kontkiewicz, A. M.; Siejka, J.; Sen, S.; Nowak, G.; Hoff, A. M.; Ahmed, K.; Mukherjee, P.; Witanachchi, S.; Lagowski, J. Appl Phys. Lett. 1994, 65, 1436
-
(1994)
Appl Phys. Lett.
, vol.65
, pp. 1436
-
-
Kontkiewicz, A.J.1
Kontkiewicz, A.M.2
Siejka, J.3
Sen, S.4
Nowak, G.5
Hoff, A.M.6
Ahmed, K.7
Mukherjee, P.8
Witanachchi, S.9
Lagowski, J.10
-
52
-
-
0001069049
-
-
Wang, L.; Wilson, M. T.; Haegel, N. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 1113.
-
(1993)
Appl. Phys. Lett.
, vol.62
, pp. 1113
-
-
Wang, L.1
Wilson, M.T.2
Haegel, N.M.3
-
53
-
-
0027907025
-
-
Stutzmann, M.; Brandt, M. S.; Bustarret, E.; Fuchs, H. D.; Rosenbauer, M.; Hopner, A.; Weber, J. J. Non-Cryst. Solids 1993, 164-166, 931.
-
(1993)
J. Non-Cryst. Solids
, vol.164-166
, pp. 931
-
-
Stutzmann, M.1
Brandt, M.S.2
Bustarret, E.3
Fuchs, H.D.4
Rosenbauer, M.5
Hopner, A.6
Weber, J.7
-
54
-
-
0029310367
-
-
Voos, M.; Delalande, C.; Ben Dahan, M.; Wainstain, J.; Titkov, A. N. Solid State Commun. 1995, 94, 651.
-
(1995)
Solid State Commun.
, vol.94
, pp. 651
-
-
Voos, M.1
Delalande, C.2
Ben Dahan, M.3
Wainstain, J.4
Titkov, A.N.5
-
55
-
-
0026678237
-
-
Brandt, M. S.; Fuchs, H. D.; Stutzmann, M.; Weber, J.; Cardona, M. Solid State Commun. 1992, 81, 307.
-
(1992)
Solid State Commun.
, vol.81
, pp. 307
-
-
Brandt, M.S.1
Fuchs, H.D.2
Stutzmann, M.3
Weber, J.4
Cardona, M.5
-
56
-
-
84906383079
-
-
Ferreira da Silva, A.; Souzada Silva, T.; Nakamura, O.; d'Aguiar Neto, M. M. F.; Pepe, I.; Roman, L. S.; Veje, E. Mater. Res. 2001, 4, 1.
-
(2001)
Mater. Res.
, vol.4
, pp. 1
-
-
Ferreira Da Silva, A.1
Souzada Silva, T.2
Nakamura, O.3
D'Aguiar Neto, M.M.F.4
Pepe, I.5
Roman, L.S.6
Veje, E.7
-
57
-
-
0031075604
-
-
See for example, Mawhinney, D. B.; Glass, J. A.; Yates, J. T., Jr. J. Phys. Chem. 1997, 101, 1202.
-
(1997)
J. Phys. Chem.
, vol.101
, pp. 1202
-
-
Mawhinney, D.B.1
Glass, J.A.2
Yates Jr., J.T.3
-
59
-
-
0000287603
-
-
Casida, M. E.; Jamorski, C.; Casida, K. C.; Salahub, D. R. J. Chem. Phys. 1998, 108, 4439.
-
(1998)
J. Chem. Phys.
, vol.108
, pp. 4439
-
-
Casida, M.E.1
Jamorski, C.2
Casida, K.C.3
Salahub, D.R.4
-
60
-
-
0344272181
-
-
Hirata, S.; Zhan, C.-C.; Apra, E.; Windus, T. L.; Dixon, D. A. J. Phys. Chem. A 2003, 107, 10154.
-
(2003)
J. Phys. Chem. A
, vol.107
, pp. 10154
-
-
Hirata, S.1
Zhan, C.-C.2
Apra, E.3
Windus, T.L.4
Dixon, D.A.5
-
64
-
-
0004067957
-
-
Schaefer, H. F., III, Ed.; Plenum Press: New York, Chapter 1
-
Dunning, T. H., Jr.; Hay, P. J. In Methods of Electronic Structure Theory; Schaefer, H. F., III, Ed.; Plenum Press: New York, 1977; Chapter 1.
-
(1977)
Methods of Electronic Structure Theory
-
-
Dunning Jr., T.H.1
Hay, P.J.2
-
70
-
-
0000828484
-
-
Prokes, S. M.; Carlos, W. E.; Glembocki, O. J. Phys. Rev. B 1994, 50, 17093.
-
(1994)
Phys. Rev. B
, vol.50
, pp. 17093
-
-
Prokes, S.M.1
Carlos, W.E.2
Glembocki, O.J.3
-
71
-
-
36449009810
-
-
O'Keeffe, P.; Aoyagi, Y.; Komuro, S.; Kato, T.; Morikawa, T. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 836.
-
(1995)
Appl. Phys. Lett.
, vol.66
, pp. 836
-
-
O'Keeffe, P.1
Aoyagi, Y.2
Komuro, S.3
Kato, T.4
Morikawa, T.5
-
73
-
-
0001750556
-
-
Skuja, L. N.; Silin, A. R.; Boganov, A. G. J. Non-Cryst. Solids 1984, 63, 431.
-
(1984)
Non-Cryst. Solids
, vol.63
, pp. 431
-
-
Skuja, L.N.1
Silin, A.R.2
Boganov, A.G.J.3
-
74
-
-
0021429253
-
-
Friebele, E. J.; Griscom, D. L.; Marrone, M. J. J. Non-Cryst. Solids 1985, 71, 133.
-
(1985)
J. Non-Cryst. Solids
, vol.71
, pp. 133
-
-
Friebele, E.J.1
Griscom, D.L.2
Marrone, M.J.3
-
75
-
-
3342917197
-
-
Munekuni, S.; Yamanaka, T.; Shimogaichi, Y.; Nagasawa, K.; Hama, Y. J. Appl. Phys. 1990, 68, 1212.
-
(1990)
J. Appl. Phys.
, vol.68
, pp. 1212
-
-
Munekuni, S.1
Yamanaka, T.2
Shimogaichi, Y.3
Nagasawa, K.4
Hama, Y.5
-
77
-
-
0021519639
-
-
Poindexter, E. H.; Gerardi, G. J.; Rueckel, M.-E.; Caplan, P. J. J. Appl. Phys. 1984, 56, 2844.
-
(1984)
J. Appl. Phys.
, vol.56
, pp. 2844
-
-
Poindexter, E.H.1
Gerardi, G.J.2
Rueckel, M.-E.3
Caplan, P.J.4
-
81
-
-
33751137441
-
-
(a) Harkless, J. A. W., Stillinger, D. K., Stillinger, F. H. J. Phys. Chem. 1996, 700, 1098.
-
(1996)
J. Phys. Chem.
, vol.700
, pp. 1098
-
-
Harkless, J.A.W.1
Stillinger, D.K.2
Stillinger, F.H.3
-
82
-
-
0000508914
-
-
(b) Wang, L.-S.; Nicholas, J. B.; Dupuis, M.; Wu, H.; Colson, S. D. Phys. Rev. Lett. 1997, 78, 4450.
-
(1997)
Phys. Rev. Lett.
, vol.78
, pp. 4450
-
-
Wang, L.-S.1
Nicholas, J.B.2
Dupuis, M.3
Wu, H.4
Colson, S.D.5
-
83
-
-
0000414579
-
-
Nayak, S. K.; Rao B. K.; Khanna, S. N.; Jena, P. J. Chem. Phys. 1998, 109, 1245.
-
(1998)
J. Chem. Phys.
, vol.109
, pp. 1245
-
-
Nayak, S.K.1
Rao, B.K.2
Khanna, S.N.3
Jena, P.4
-
84
-
-
0034293898
-
-
Xu, C. Wang, W.; Zhang, W.; Zhuang, J.; Liu, L.; Kong, Q.; Zhao, L.; Long, Y. Fan, K.; Qian, S.; Li, Y. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 9518.
-
(2000)
J. Phys. Chem. A
, vol.104
, pp. 9518
-
-
Xu, C.1
Wang, W.2
Zhang, W.3
Zhuang, J.4
Liu, L.5
Kong, Q.6
Zhao, L.7
Long, Y.8
Fan, K.9
Qian, S.10
Li, Y.11
-
85
-
-
0035280588
-
-
(e) Chu, T. S.; Zhang, R. Q.; Cheung, H. F. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 1705.
-
(2001)
J. Phys. Chem. B
, vol.105
, pp. 1705
-
-
Chu, T.S.1
Zhang, R.Q.2
Cheung, H.F.3
-
86
-
-
0035309874
-
-
(f) Zhang, R. Q.; Chu, T. S.; Lee, S. T. J. Chem. Phys. 2001, 114, 5531.
-
(2001)
J. Chem. Phys.
, vol.114
, pp. 5531
-
-
Zhang, R.Q.1
Chu, T.S.2
Lee, S.T.3
-
87
-
-
0142007238
-
-
(g) Lu, W. C.; Wang, C. Z.; Nguyen, V.; Schmidt, M. W.; Gordon, M. S.; Ho, K. M. J. Phys Chem. A 2003, 107, 6936.
-
(2003)
J. Phys Chem. A
, vol.107
, pp. 6936
-
-
Lu, W.C.1
Wang, C.Z.2
Nguyen, V.3
Schmidt, M.W.4
Gordon, M.S.5
Ho, K.M.6
|