Si2 Oy (y = 1– 6) clusters: Models for oxidation of silicon surfaces and defect sites in bulk oxide materials

Physical Review Letters

Volumn 78, Issue 23, 1997, Pages 4450-4453

  Wang, Lai Sheng ^a,b   Nicholas, John B ^b   Dupuis, Michel ^b   Wu, Hongbin ^a   Colson, Steven D ^b  

^a WASHINGTON STATE UNIVERSITY   (United States)

^b PACIFIC NORTHWEST NATIONAL LABORATORY   (United States)

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EID: 0000508914     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.78.4450     Document Type: Article

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