Structure, optical, and magnetic properties of sputtered manganese and nitrogen-codoped ZnO films

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 8, 2006, Pages

  Gu, Zheng Bin ^a   Lu, Ming Hui ^a   Wang, Jing ^a   Wu, Di ^a   Zhang, Shan Tao ^a   Meng, Xiang Kang ^a   Zhu, Yong Yuan ^a   Zhu, Shi Ning ^a   Chen, Yan Feng ^a   Pan, Xiao Qing ^b  

^a NANJING UNIVERSITY   (China)

^b UNIVERSITY OF MICHIGAN   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION SPECTRA; RADIO-FREQUENCY (RF); SPUTTERED MANGANESE; X-RAY PHOTON;

DOPING (ADDITIVES); MAGNETIC PROPERTIES; NITROGEN; OPTICAL PROPERTIES; PHOTONS; ZINC OXIDE;

THIN FILMS;

EID: 33644548358     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2178466     Document Type: Article

References (24)

1. S. A. Wolf, D. D. Awschalom, R. A. Buhrman, J. M. Daughton, S. von Molnar, M. L. Roukes, A. Y. Chtchelkanova, and D. M. Treger, Science 294, 1488 (2001).
2. T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, and D. Ferrand, Science 287, 1019 (2000).
3. P. Sharma, A. Gupta, K. V. Rao, F. J. Owens, R. Sharma, R. Ahuja, J. M. O. Guillen, B. Johansson, and G. A. Gehring, Nat. Mater. 2, 673 (2003).
4. R. K. Zheng, H. Liu, X. X. Zhang, V. A. L. Roy, and A. B. Djurišić, Appl. Phys. Lett. 85, 2589 (2004).
5. D. A. Schwartz and D. R. Gamelin, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 16, 2116 (2004).
6. A. H. Macdonald, P. Schiffer, and N. Samarth, Nat. Mater. 4, 195 (2005).
7. S. W. Jung, S.-J. An, G.-C. Yi, C. U. Jung, S.-I. Lee, and S. Cho, Appl. Phys. Lett. 80, 4561 (2002).
8. K. Ueda, H. Tabata, and T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 79, 988 (2001).
9. K. Rode, A. Anane, R. Mattana, J.-P. Contour, O. Durand, and R. LeBourgeois, J. Appl. Phys. 93, 7676 (2003).
10. T. Fukumura, Z. Jin, M. Kawasaki, T. Shono, T. Hasegawa, S. Koshihara, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 78, 958 (2001).
11. X. M. Cheng and C. L. Chien, J. Appl. Phys. 93, 7876 (2003).
12. A. C. Mofor, A. El-Shaer, A. Bakin, A. Waag, H. Ahlers, U. Siegner, S. Sievers, M. Albrecht, W. Schoch, N. Izyumskaya, V. Avrutin, S. Sorokin, S. Ivanov, and J. Stoimenos, Appl. Phys. Lett. 87, 62501 (2001).
13. A. Tsukazaki, A. Ohtomo, T. Onuma, M. Ohtani, T. Makino, M. Sumiya, K. Ohtani, S. F. Chichibu, S. Fuke, Y. Segawa, H. Ohno, H. Koinuma, and M. Kawasaki, Nat. Mater. 4, 42 (2005).
14. T. Mizokawa, T. Nambu, A. Fujimori, T. Fukumura, and M. Kawasaki, Phys. Rev. B 65, 85209 (2002).
15. A. Fazzio, M. J. Caldas, and A. Zunger, Phys. Rev. B 30, 3430 (1984).
16. Y. R. Lee, A. K. Ramdas, and R. L. Aggarwal, Phys. Rev. B 38, 10600 (1988).
17. K. J. Kim and Y. R. Park, J. Appl. Phys. 94, 867 (2004).
18. M. Futsuhara, K. Yoshioka, and O. Takai, Thin Solid Films 317, 322 (1998).
19. E. Chikoidze, Y. Dumont, F. Jomard, D. Ballutaud, P. Galtier, O. Gorochov, and D. Ferrand, J. Appl. Phys. 97, 10D327 (2005).
20. Z. Wang, Y. Hong, J. Tang, C. Radu, Y. Chen, L. Spinu, W. Zhou, and L. D. Tung, Appl. Phys. Lett. 86, 82509 (2005).
21. H. Kimura, T. Fukumura, M. Kawasaki, K. Inaba, T. Hasegawa, and H. Koinuma, Appl. Phys. Lett. 80, 94 (2002).
22. E.-C. Lee, Y.-S. Kim, Y.-G. Jin, and K. J. Chang, Phys. Rev. B 64, 85120 (2001).
23. C. H. Park, S. B. Zhang, and S.-H. Wei, Phys. Rev. B 66, 73202 (2002).
24. J. G. Ma, Y. C. Liu, R. Mu, J. Y. Zhang, Y. M. Lu, D. Z. Shen, and X. W. Fan, J. Vac. Sci. Technol. B 22, 94 (2004).