Epitaxial Fe/GaAs via electrochemistry

Journal of Applied Physics

Volumn 98, Issue 6, 2005, Pages

  Bao, Zhi Liang ^a   Kavanagh, Karen L ^a  

^a SIMON FRASER UNIVERSITY   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BULK IRON; STRAIN RELAX; VACUUM-DEPOSITED FILMS;

ELECTROCHEMISTRY; ELECTRODEPOSITION; ELECTROLYTES; INTERFACES (MATERIALS); IRON; LATTICE CONSTANTS; MAGNETIZATION; NUCLEATION; STRAIN; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; VACUUM DEPOSITED COATINGS; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

GALLIUM COMPOUNDS;

EID: 26244444780     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2014939     Document Type: Article

References (24)

1. M. Ramsteiner, J. Supercond. 16, 661 (2003).
2. C. H. Li, G. Kioseoglou, O. M. J. van't Erve, A. T. Hanbicki, B. T. Jonker, R. Malloy, M. Yassar, and A. Petrou, Appl. Phys. Lett. 85, 1544 (2004).
3. B. Li, J. R. Feimin, A. Azevedo, F. M. de Augiar, and S. M. Rezende, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.121082 72, 2760 (1998); Y. Ding, J. Appl. Phys. 93, 6674 (2003).
4. B. Li, J. R. Feimin, A. Azevedo, F. M. de Augiar, and S. M. Rezende, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.121082 72, 2760 (1998); Y. Ding, J. Appl. Phys. 93, 6674 (2003).
5. A. T. Hanbicki, B. T. Jonker, G. Itskos, G. Kioseoglou, and A. Petrou, Appl. Phys. Lett. 80, 1240 (2002).
6. H. J. Zhu, M. Ramsteiner, H. Kostial, M. Werssermeier, H.-P. Schonherr, and K. H. Ploog, Phys. Rev. Lett. 87, 016601 (2001).
7. A. Isakovic, D. M. Carr, J. Strand, B. D. Schultz, C. J. Palmstrøm, and P. A. Crowell, Phys. Rev. B 64, 161304 (2001).
8. R. Janson, S. D. Kim, R. Vlutters, O. M. J. van't Erve, and J. C. Lodder, Phys. Rev. Lett. 87, 166601 (2001).
9. L. C. Chen, J. W. Dong, B. D. Schultz, C. J. Palmstrøm, J. Berezovsky, A. Isakovic, P. A. Crowell, and N. Tabat, J. Vac. Sci. Technol. B 18, 2057 (2000).
10. J. J. Krebs, B. T. Jonker, and G. A. Prinz, J. Appl. Phys. 61, 2596 (1987).
11. A. Filipe, A. Schuhl, and P. Galtier, Appl. Phys. Lett. 70, 129 (1997).
12. Y. B. Xu, E. T. M. Kernohan, D. J. Freeland, A. Ercole, M. Tselepi, and J. A. C. Bland, Phys. Rev. B 58, 890 (1998).
13. T. L. Monchesky, B. Heinrich, R. Urban, K. Mytle, M. Klaua, and J. Kirschner, Phys. Rev. B 60, 10242 (1999).
14. D. M. Smilgies, R. Feidenhans'l, G. Scherb, D. M. Kolb, A. Kazimirov, and J. Zegenhagen, Surf. Sci. 367, 40 (1996).
15. P. Evans, C. Scheck, R. Schad, and G. Zangari, J. Magn. Magn. Mater. 0304-8853 10.1016/S0304-8853(02)01403-8 260, 467 (2003); C. Scheck, Y. K. Liu, P. Evans, R. Schad, and G. Zangari, J. Appl. Phys. 95, 6549 (2004).
16. P. Evans, C. Scheck, R. Schad, and G. Zangari, J. Magn. Magn. Mater. 0304-8853 10.1016/S0304-8853(02)01403-8 260, 467 (2003); C. Scheck, Y. K. Liu, P. Evans, R. Schad, and G. Zangari, J. Appl. Phys. 95, 6549 (2004).
17. Y. K. Liu, C. Scheck, R. Schad, and G. Zangari, Electrochem. Solid-State Lett. 7, D11 (2004).
18. R. Kohlhaas, P. Donner, and N. Schmitz-Pranghe, Z. Angew. Phys. 23, 245 (1967).
19. P. F. Fewster and C. J. Curling, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.339133 62, 4154 (1987); R. S. Goldman, K. L. Kavanagh, H. H. Wieder, S. N. Ehrlich, and R. M. Feenstra, J. Appl. Phys. 83, 5137 (1998).
20. P. F. Fewster and C. J. Curling, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.339133 62, 4154 (1987); R. S. Goldman, K. L. Kavanagh, H. H. Wieder, S. N. Ehrlich, and R. M. Feenstra, J. Appl. Phys. 83, 5137 (1998).
21. G. Wedler, B. Wessermann, R. Nötzel, and R. Koch, Appl. Phys. Lett. 78, 1270 (2001).
22. D. Williams and C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy (Plenum, New York, 1996).
23. Z. Huang, J. Microsc. 215, 219 (2004).
24. R. A. Gordon, E. D. Crozier, D.-T. Jiang, P. S. Budnik, T. L. Monchesky, and B. Heinrich, Phys. Rev. B 62, 2151 (2000).