Photophysical and redox NIR-sensitivity enhancement in photorefractive polymer composites

ChemPhysChem

Volumn 5, Issue 2, 2004, Pages 277-284

  Mecher, Erwin ^a   Gallego Gómez, Francisco ^a   Meerholz, Klaus ^a   Tillmann, Hartwig ^b   Hörhold, Hans Heinrich ^b   Hummelen, Jan C ^c  

^a UNIVERSITY OF COLOGNE   (Germany)

^b FRIEDRICH SCHILLER UNIVERSITY JENA   (Germany)

^c UNIVERSITY OF GRONINGEN   (Netherlands)

Author keywords

Doping; Gating; Holography; Photorefractivity; Polymers

Indexed keywords

COMPOSITE MATERIALS; DOPING (ADDITIVES); HOLOGRAPHY; INFRARED DEVICES; PHOTOREACTIVITY; PHOTOREFRACTIVE MATERIALS;

GATING; GATING MECHANISMS; NEAR INFRARED; PHOTOPHYSICAL EFFECTS; PHOTOREFRACTIVE POLYMER COMPOSITES; PHOTOREFRACTIVITY; SENSITIVITY ENHANCEMENTS; SHORTER WAVELENGTH;

POLYMERS;

POLYMER;

ARTICLE; CHEMICAL COMPOSITION; DYNAMICS; LIGHT REFRACTION; NEAR INFRARED SPECTROSCOPY; OXIDATION REDUCTION REACTION; PHYSICAL CHEMISTRY; REACTION ANALYSIS;

EID: 2442486656     PISSN: 14394235     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/cphc.200300943     Document Type: Article

References (43)

1. E. Mecher, F. Gallego-Gómez, H. Tillmann, H.-H. Hörhold, J. C. Hummelen, K. Meerholz, Nature 2002, 418, 959-963.
2. G. W. Burr, I. Leyva, Opt. Lett. 2000, 25, 499-501.
3. a) S. C. W. Hyde, N. P. Barry, R. Jones, J. C. Dainty, P. M. W. French, M. B. Klein, B. A. Wechsler, Opt. Lett. 1995, 20, 1331-1334;
4. b) R. Jones, S. C. W. Hyde, M. J. Lynn, N. P. Barry, J. C. Dainty, P. M. W. French, K. M. Kwolek, D. D. Nolte, M. R. Melloch, Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 1837-1839;
5. c) D. D. Steele, B. L. Volodin, O. Savina, B. Kippelen, N. Peyghambarian, H. Röckl, S. R. Marder, Opt. Lett. 1998, 23, 153-155.
6. a) W. E. Moerner, S. M. Silence, Chem. Rev. 1994, 94, 127-155;
7. b) Y. Zhang, R. Burzynski, S. Ghosal, K. M. Casstevens, Adv. Mater. 1998, 8, 111-125;
8. c) W. E. Moerner, A. Grunnet-Jepsen, C. L. Thompson, Annu. Rev. Mater. Sci. 1997, 27, 585-623;
9. d) K. Meerholz, Angew. Chem. 1997, 109, 981-985; Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1997, 36, 945-948;
10. d) K. Meerholz, Angew. Chem. 1997, 109, 981-985; Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1997, 36, 945-948;
11. e) K. Meerholz, B. Kippelen, N. Peyghambarian, Electrical and Optical Polymer Systems (Eds: D. L. Wise, G. E. Wnek, D. J. Trantolo, J. D. Gresser, T. M. Cooper) World Scientific 1998, 571-632;
12. f) S. Zilker, ChemPhysChem 2000, 1, 72-87.
13. W. E. Moerner, S. M. Silence, F. Hache, G. C. Bjorklund, J. Opt. Soc. Am. 1994, 11, 320-330.
14. a) R. Wortmann, C. Poga, R. J. Twieg, C. Geletneky, C. R. Moylan, P. M. Lundquist, R. G. DeVoe, P. M. Cotts, H. Horn, J. E. Rice, D. M. Burland, J. Chem. Phys. 1996, 105, 10637-10647;
15. b) B. Kippelen, F. Meyers, N. Peyghambarian, S. Marder, J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 4559-4560.
16. H. Kogelnik, Bell System Tech. J. 1969, 48, 2909-2947.
17. J. Ashley, M.-P. Bernal, G. W. Burr, H. Coufal, H., Günther, J. A. Hoffnagle, C. M. Jefferson, B. Marcus, R. M. Macfarlane, R. M., Shelby, G. T. Sincerbox, IBM J. Res. Develop. 2000, 44, 341-367.
18. a) F. Würthner, S. Yao, J. Schilling, R. Wortmann, M. Redi-Ashiro, E. Mecher, F. Gallego-Gómez, K. Meerholz, J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 2810-2824;
19. b) F. Würthner, R. Wortmann, K. Meerholz, ChemPhysChem 2002, 3, 101-115.
20. a) R. Bittner, T. Däubler, D. Neher, K. Meerholz, Adv. Mater. 1999, 11, 123;
21. b) T. K. Däubler, R. Bittner, K. Meerholz, V. Cimrová, D. Neher, Phys. Rev. B 2000, 61, 13515.
22. K. Meerholz, R. Bittner, Y. De Nardin, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 1998, 315, 99-102.
23. M. A. Díaz-García, D. Wright, J. D. Casperson, B. Smith, E. Glazer, W. E. Moerner, L. I. Sukhomlinova, R. J. Twieg, Chem. Mater. 1999, 11, 1784-1791.
24. H. H. Hörhold, H. Tillmann, D. Raabe, M. Helbig, W. Elflein, A. Bräuer, W. Holzer, A. Penzkofer, Proc. SPIE 2001, 4105, 431-442.
25. E. Mecher, R. Bittner, C. Bräuchle, K. Meerholz, Synth. Met. 1999, 102, 993-996.
26. J. C. Hummelen, B. W. Knight, F. LePeq, F. Wudl, J. Org. Chem. 1995, 60, 532-538.
27. A. Yamamori, C. Adachi, T. Koyama, Y. Taniguchi, Appl. Phys Lett. 1998, 72, 2147-2149.
28. W. Schmidt, E. Steckhan, Chem. Ber. 1980, 113, 577-582.
29. N. V. Kukhtarev, V. B. Markov, S. G. Odulov, M. S. Soskin, V. L. Vinetskii, Ferroelectrics 1979, 22, 949-963.
30. W. D. Gill, J. Appl. Phys. 1972, 43, 5033-5043.
31. a) K. Buse, A. Adibi, D. Psaltis, Nature 1998, 393, 665-668;
32. b) H. Günther, R. Macfarlane, Y. Furukawa, K. Kitamura, R. Neurgaonkar, Appl. Opt. 1998, 73, 7611-7623.
33. T. K. Däubler, R. Bittner, K. Meerholz, V. Cimrová, D. Neher, Phys. Rev. B. 2000, 61, 13515-13527.
34. S. M. Silence, G. C. Bjorklund, W. E. Moerner, Opt. Lett. 1994, 19, 1822-1824.
35. A. Grunnet-Jepsen, D. Wright, B. Smith, M. S. Brather, M. S. DeClue, J. S. Siegel, W. E. Moerner, Chem. Phys. Lett. 1998, 291, 553-561.
36. H. Bässler, Phys. Stat. Sol. B 1993, 775, 15-35.
37. L. Kulikovsky, E. Mecher, K. Meerholz, D. Neher, unpublished results.
38. J. A. Herlocker, C. Fuentes-Hernandez, K. B. Ferrio, E. Hendrickx, P.-A. Blanche, N. Peyghambarian, B. Kippelen, Y. Zhang, J. F. Wang, S. R. Marder, Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 2292-2294.
39. J. Wolff, S. Schloter, U. Hofmann, D. Haarer, S. Zilker, J. Opt. Soc. Am. B 1999, 16, 1080-1086.
40. S. J. Zilker, U. Hofmann, Appl. Opt. 2000, 39, 2287-2290.
41. L. Wang, M. K. Ng, L. Yu, Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 700-702.
42. D. V. Steenwinckel, E. Hendrickx, A. Persoons, K. Van den Broeck, C. Samyn, J. Chem. Phys. 2000, 112, 11 030-11 037.
43. B. Kippelen, S. R. Marder, E. Hendrickx, J. L. Maldano, G. Guillernet, B. L. Volodin, D. D. Steele, Y. Enami, Sandalphon, Y. J. Yao, J. F. Wang, H. Röckel, L. Erskine, N. Peyghambarian, Science 1998, 279, 54-57.