Field emission properties of macroscopic single-walled carbon nanotube strands

Applied Physics Letters

Volumn 86, Issue 22, 2005, Pages 1-3

  Liu, Chang ^a,c   Tong, Yu ^a   Cheng, Hui Ming ^a   Golberg, Dmitri ^b   Bando, Yoshio ^b  

^a INSTITUTE OF METAL RESEARCH   (China)

^b NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE   (Japan)

^c National Institute for Materials Science   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ARGON; BOUNDARY CONDITIONS; DOPING (ADDITIVES); ELECTRONIC STRUCTURE; FERMI LEVEL; HYDROGEN; MATHEMATICAL MODELS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; SUPERCONDUCTING DEVICES; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY;

DIRECT SYNTHESIS; DOUBLE BONDS; FIELD EMISSION PROPERTIES; GRAPHITE POWDER;

CARBON NANOTUBES;

EID: 20844434140     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1944229     Document Type: Article

References (15)

1. A. Thess, R. Lee, P. Nikolaev, H. J. Dai, P. Petit, J. Robert, C. H. Xu, Y. H. Lee, S. G. Kim, A. G. Rinzler, D. T. Colbert, G. E. Scuseria, D. Tomanek, J. E. Fischer, and R. E. Smalley, Science 273, 483 (1996).
2. C. Journet, W. K. Maser, P. Bernier, A. Loiseau, M. L. delaChapelle, S. Lefrant, P. Deniard, R. Lee, and J. E. Fischer, Nature (London) 388, 756 (1997).
3. C. Liu, H. M. Cheng, H. T. Cong, F. Li, G. Su, B. L. Zhou, and M. S. Dresselhaus, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 12, 1190 (2000).
4. H. W. Zhu, C. L. Xu, D. H. Wu, B. Q. Wei, R. Vajtai, and P. M. Ajayan, Science 296, 884 (2002).
5. K. Hata, D. N. Futaba, K. Mizuno, T. Namai, M. Yumura, and S. Iijima, Science 306, 1362 (2004).
6. L. M. Ericson, H. Fan, H. Q. Peng, V. A. Davis, W. Zhou, J. Sulpizio, Y. H. Wang, R. Booker, J. Vavro, C. Guthy, A. N. G. Parra-Vasquez, M. J. Kim, S. Ramesh, R. K. Saini, C. Kittrell, G. Lavin, H. Schmidt, W. W. Adams, W. E. Billups, M. Pasquali, W. F. Hwang, R. H. Hauge, J. E. Fischer, and R. E. Smalley, Science 305, 1447 (2004).
7. W. A. de Heer, A. Chatelain, and D. Ugarte, Science 270, 1179 (1995).
8. S. S. Fan, M. G. Chapline, N. R. Franklin, T. W. Tombler, A. M. Cassell, and H. J. Dai, Science 283, 512 (1999).
9. Y. Chen, D. T. Shaw, and L. P. Guo, Appl. Phys. Lett. 76, 2469 (2000).
10. Z. W. Pan, F. C. K. Au, H. L. Lai, W. Y. Zhou, L. F. Sun, Z. Q. Liu, D. S. Tang, C. S. Lee, S. T. Lee, and S. S. Xie, J. Phys. Chem. B 105, 1519 (2001).
11. Y. Saito, K. Hamaguchi, K. Hata, K. Tohji, A. Kasuya, Y. Nishina, K. Uchida, Y. Tasaka, F. Ikazaki, and M. Yumura, Ultramicroscopy 73, 1 (1998).
12. J. M. Bonard, J. P. Salvetat, T. Stockli, W. A. de Heer, L. Forro, and A. Chatelain, Appl. Phys. Lett. 73, 918 (1998).
13. J. W. Gadzuk and E. W. Plummer, Rev. Mod. Phys. 45, 487 (1973).
14. C. J. Edgcombe and U. Valdre, Philos. Mag. B 82, 987 (2002).
15. J. M. Bonard, K. A. Dean, B. F. Coll, and C. Klinke, Phys. Rev. Lett. 89, 197602 (2002).