Arrays of nanoscale magnetic dots: Fabrication by x-ray interference lithography and characterization

Applied Physics Letters

Volumn 85, Issue 21, 2004, Pages 4989-4991

  Heyderman, L J ^a,b   Solak, H H ^a,b   David, C ^a,b   Atkinson, D ^a,b   Cowburn, R P ^a,b   Nolting, F ^a  

^a PAUL SCHERRER INSTITUTE   (Switzerland)

^b DURHAM UNIVERSITY   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ARRAYS; COMPUTER SIMULATION; ELECTRODEPOSITION; ELECTRON MICROSCOPY; HYSTERESIS; LITHOGRAPHY; MAGNETIC FIELD EFFECTS; MAGNETIC FLUIDS; MAGNETIC MATERIALS; NICKEL; OPTICAL KERR EFFECT; PHOTOEMISSION;

HYSTERESIS LOOPS; MAGNETIC DOTS; MAGNETIC SPINS; X-RAY INTERFERENCE LITHOGRAPHY (XIL);

NANOSTRUCTURED MATERIALS;

EID: 19144363273     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1821649     Document Type: Article

References (19)

1. P. R. Krauss and S. Y. Chou, Appl. Phys. Lett. 71, 3174 (1997).
2. R. M. H. New, R. F. W. Pease, and R. L. White, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 3196 (1994).
3. J. Moritz, L. Buda, B. Dieny, J. P. Nozieres, R. J. M. van de Veerdonk, T. M. Crawford, and D. Weller, Appl. Phys. Lett. 84, 1519 (2004).
4. R. P. Cowburn, J. Appl. Phys. 93, 9310 (2003).
5. H. H. Solak, C. David, J. Gobrecht, V. Golovkina, F. Cerrina, S. O. Kim, and P. F. Nealey, Microelectron. J. 67-68, 56 (2003).
6. S. O. Kim, H. H. Solak, M. P. Stoykovich, N. J. Ferrier, J. J. de Pablo, and P. F. Nealey, Nature (London) 424, 411 (2003).
7. C. A. Ross, M. Hwang, M. Shima, J. Y. Cheng, M. Farhoud, T. A. Sava, H. I. Smith, W. Schwarzacher, F. M. Ross, M. Redjdal, and F. B. Humphrey, Phys. Rev. B 65, 144417 (2002).
8. J. Y. Cheng, C. A. Ross, E. L. Thomas, H. I. Smith, and G. J. Vancso, Appl. Phys. Lett. 81, 3657 (2002).
9. J. Y. Cheng, C. A. Ross, E. L. Thomas, H. I. Smith, R. G. H. Lammertink, and G. J. Vancso, IEEE Trans. Magn. 38, 2541 (2002).
10. S. Sun, C. B. Murray, D. Weller, L. Folks, and A. Moser, Science 287, 1989 (2000).
11. M. Albrecht, C. T. Rettner, A. Moser, M. E. Best, and B. D. Terris, Appl. Phys. Lett. 81, 2875 (2002).
12. L. J. Heyderman, H. Schift, C. David, B. Ketterer, M. Auf der Maur, and J. Gobrecht, Microelectron. J. 57-58, 375 (2001).
13. R. P. Cowburn, D. K. Koltsov, A. O. Adeyeye, and M. E. Welland, Appl. Phys. Lett. 73, 3947 (1998).
14. D. A. Allwood, Gang-Xiong, M. D. Cooke, and R. P. Cowburn, J. Phys. D 36, 2175 (2003).
15. R. P. Cowburn, D. K. Koltsov, A. O. Adeyeye, M. E. Welland, and D. M. Tricker, Phys. Rev. Lett. 83, 1042 (1999).
16. M. Natali, I. L. Prejbeanu, A. Lebib, L. D. Buda, K. Ounadjela, and Y. Chen, Phys. Rev. Lett. 88, 157203 (2002).
17. K. J. Kirk, M. R. Scheinfein, J. N. Chapman, S. McVitie, M. F. Gillies, B. R. Ward, and J. G. Tennant, J. Phys. D 34, 160 (2001).
18. C. Quitmann, U. Flechsig, L. Patthey, T. Schmidt, G. Ingold, M. Howells, M. Janousch, and R. Abela, Surf. Sci. 480, 173 (2001).
19. A. Scholl, H. Ohldag, F. Nolting, J. Stohr, and H. A. Padmore, Rev. Sci. Instrum. 73, 1362 (2002).