Influence of the annealing field strength on exchange bias and magnetoresistance of spin valves with IrMn

Journal of Applied Physics

Volumn 97, Issue 9, 2005, Pages

  Kerr, Emma ^a   Van Dijken, Sebastiaan ^a   Coey, J M D ^a  

^a SCIENCE FOUNDATION IRELAND   (Ireland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FIELD ANNEALING EFFECTS; MAGNETIC ANNEALING; SINGLE-LAYER CALIBRATION FILMS; X-RAY REFLECTIVITY;

ANNEALING; ANTIFERROMAGNETISM; IRIDIUM COMPOUNDS; MAGNETIC FIELD EFFECTS; SQUIDS; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

MAGNETORESISTANCE;

EID: 18844426535     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1895474     Document Type: Article

References (23)

1. G. Anderson, Y. Huai, and L. Miloslawsky, J. Appl. Phys. 87, 6989 (2000).
2. M. Pakala, Y. Huai, G. Anderson, and L. Miloslawsky, J. Appl. Phys. 87, 6653 (2000).
3. J. van Driel, F. R. de Boer, K.-M. H. Lenssen, and R. Coehoorn, J. Appl. Phys. 88, 975 (2000).
4. H. Li, P. P. Freitas, Z. Wang, J. B. Sousa, P. Gogol, and J. Chapman, J. Appl. Phys. 89, 6904 (2001).
5. S-S. Lee, B-K. Kim, J-Y. Lee, D-G. Hwang, S-W. Kim, M-Y. Kim, J-Y. Hwang, and J-R. Rhee, J. Appl. Phys. 95, 7525 (2004).
6. R. Nakatani, H. Hoshiya, K. Hoshino, and Y. Sugita, J. Magn. Magn. Mater. 173, 321 (1997).
7. J-C. Ro, Y-S. Choi, S-J. Suh, and H-J. Lee, IEEE Trans. Magn. 35, 3925 (1999).
8. H. N. Fuke, K. Saito, M. Yoshikawa, H. Iwasaki, and M. Sahashi, Appl. Phys. Lett. 75, 3680 (1999).
9. K. Yagami, M. Tsunoda, and M. Takahashi, J. Appl. Phys. 89, 6609 (2001).
10. J. van Driel, R. Coehoorn, K.-M. H. Lenssen, A. E. T. Kuiper, and F. R. de Boer, J. Appl. Phys. 85, 5522 (1999).
11. G. Malinowski, M. Hehn, S. Robert, O. Lenoble, A. Schuhl, and P. Panissod, Phys. Rev. B 68, 184404 (2003).
12. T. Ambrose and C. L. Chien, J. Appl. Phys. 83, 7222 (1998).
13. P. Milt́nyi, Appl. Phys. Lett. 75, 2304 (1999).
14. N. J. Gökemijer, J. W. Cai, and C. L. Chien, Phys. Rev. B 60, 3033 (1999).
15. Y. K. Kim, G-H. Park, S-R. Lee, S-H. Min, J. Y. Won, and S. A. Song, J. Appl. Phys. 93, 7924 (2003).
16. S. Cardoso, P. P. Freitas, C. de Jesus, P. Wei, and J. C. Soares, Appl. Phys. Lett. 76, 610 (2000).
17. J. H. Lee, S. J. Kim, C. S. Yoon, C. K. Kim, B. G. Park, and T. D. Lee, J. Appl. Phys. 92, 6241 (2002).
18. T. P. A. Hase, B. D. Fulthorpe, S. B. Wilkins, B. K. Tanner, C. H. Marrows, and B. J. Hickey, Appl. Phys. Lett. 79, 985 (2001).
19. H. Ohldag, A. Scholl, F. Nolting, E. Arenholz, S. Maat, A. T. Young, M. Carey, and J. Stöhr, Phys. Rev. Lett. 91, 017203 (2003).
20. P. Milt́nyi, M. Gierlings, J. Keller, B. Beschoten, G. Güntherodt, U. Nowak, and K. D. Usadel, Phys. Rev. Lett. 84, 4224 (2000).
21. A. Mougin, T. Mewes, M. Jung, D. Engel, A. Ehresmann, H. Schmoranzer, J. Fassbender, and B. Hillebrands, Phys. Rev. B 63, 060409 (2001).
22. A. Misra, U. Nowak, and K. D. Usadel, J. Appl. Phys. 93, 6593 (2003).
23. E. Kerr, S. van Dijken, R. M. Langford, and J. M. D. Coey, J. Magn. Magn. Mater. 290-291, 124 (2005).