Exchange biasing by Ir19Mn81: Dependence on temperature, microstructure and antiferromagnetic layer thickness

Journal of Applied Physics

Volumn 88, Issue 2, 2000, Pages 975-982

  Van Driel, J ^a,b   De Boer, F R ^a   Lenssen, K M H ^b   Coehoorn, R ^b  

^a UNIVERSITY OF AMSTERDAM   (Netherlands)

^b PHILIPS RESEARCH LABORATORIES   (Netherlands)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000426149     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.373764     Document Type: Article

References (23)

1. B. Dieny, J. Magn. Magn. Mater. 136, 335 (1994).
2. T. Lin, C. Tsang, R. E. Fontana, and J. K. Howard, IEEE Trans. Magn. 31, 2585 (1995).
3. P. A. A. van der Heijden, T. F. M. M. Maas, W. J. M. de Jonge, J. C. S. Kools, F. Roozeboom, and P. J. van der Zaag, Appl. Phys. Lett. 72, 492 (1998).
4. H. N. Fuke, K. Saito, Y. Kamiguchi, H. Iwasaki, and M. Sahashi, J. Appl. Phys. 81, 4004 (1997).
5. A. J. Devasahayam, P. J. Sides, and M. H. Kryder, J. Appl. Phys. 83, 7216 (1998).
6. J. van Driel, R. Coehoorn, K.-M. H. Lenssen, A. E. T. Kuiper, and F. R. de Boer, J. Appl. Phys. 85, 5522 (1999).
7. K.-M. H. Lenssen, J. J. T. M. Donkers, A. E. T. Kuiper, and J. van Driel, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 562, 33 (1999).
8. K. Hoshino, R. Nakatani, H. Hoshiya, Y. Sugita, and S. Tsunashima, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 35, 607 (1996).
9. H. Fuke, Y. Kamiguchi, S. Hashimoto, T. Funayama, K. Saito, H. Iwasaki, and M. Sahashi, Exchange coupling and magnetoresistive element, European Patent Application EP 0717422A1 (June 19, 1996).
10. J. C. S. Kools, IEEE Trans. Magn. 32, 3165 (1996).
11. T. Yamaoka, J. Phys. Soc. Jpn. 36, 445 (1974).
12. R. Jungblut, R. Coehoorn, M. T. Johnson, J. aan de Stegge, and A. Reinders, J. Appl. Phys. 75, 6659 (1994).
13. C. Tsang, N. Heiman, and K. Lee, J. Appl. Phys. 52, 2471 (1981).
14. R. Nakatani, H. Hoshiya, K. Hoshino, and Y. Sugita, J. Magn. Magn. Mater. 173, 321 (1997).
15. J. C. Ro, Y. S. Choi, S. J. Suh, and H. J. Lee, IEEE Trans. Magn. 35, 3925 (1999).
16. A. P. Malozemoff, Phys. Rev. B 37, 7673 (1988).
17. U. Gradmann, R. Bergholz, and E. Bergter, Thin Solid Films 126, 107 (1985).
18. S. S. P. Parkin and V. S. Speriosu, in Magnetic Properties of Low-Dimensional Systems II, edited by L. M. Falicov, F. Mejia-Lire, and J. L. Morán-López (Springer, Berlin, 1990), pp. 110-120.
19. T. Ambrose and C. L. Chien, J. Appl. Phys. 79, 5920 (1996).
20. P. J. van der Zaag, L. F. Feiner, R. M. Wolf, J. A. Borchers, Y. Ijiri, and R. W. Erwin, Phys. Rev. Lett. (to be published).
21. E. Fulcomer and S. H. Charap, J. Appl. Phys. 43, 4190 (1972).
22. S. Soeya, T. Imagawa, K. Mitsuoka, and S. Narishige, J. Appl. Phys. 76, 5356 (1994).
23. C. Tsang and K. Lee, J. Appl. Phys. 53, 2605 (1982).