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Volumn 76, Issue 5, 2000, Pages 610-612

Spin-tunnel-junction thermal stability and interface interdiffusion above 300°C

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EID: 0001652302     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125833     Document Type: Article
Times cited : (121)

References (8)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.