Surfactant-mediated epitaxy of Ge on Si(111): Beyond the surface

Applied Physics Letters

Volumn 86, Issue 11, 2005, Pages 1-3

  Schmidt, Th ^a   Kroger R ^a   Clausen, T ^a   Falta, J ^a   Janzen, A ^b   Kammler, M ^b   Kury, P ^b   Zahl, P ^b,c   Hom von Hoegen, M ^b  

^a UNIVERSITY OF BREMEN   (Germany)

^b UNIVERSITY OF DUISBURG ESSEN   (Germany)

^c IBM RESEARCH ZURICH   (Switzerland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DISLOCATIONS (CRYSTALS); EPITAXIAL GROWTH; RELAXATION PROCESSES; STRAIN; SURFACE ROUGHNESS; THERMAL EFFECTS; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; X RAY DIFFRACTION;

GRAZING INCIDENCE; GROWTH PARAMETERS; RECIPROCAL SPACE MAPS; SURFACTANT-MEDIATED EPITAXY (SME);

SURFACE ACTIVE AGENTS;

EID: 17944371699     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1882760     Document Type: Article

References (21)

1. P. M. J. Maree, K. Nakagawa, F. M. Mulders, J. F. van der Veen, and K. L. Kavanagh, Surf. Sci. 191, 305 (1987).
2. P. Sheldon, B. G. Yacobi, K. M. Jones, and D. J. Dunlavy, J. Appl. Phys. 58, 4186 (1985).
3. F. K. LeGoues, B. S. Meyerson, and J. F. Morar, Phys. Rev. Lett. 66, 2903 (1991).
4. M. Copel, M. C. Reuter, E. Kaxiras, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 63, 632 (1989).
5. F. K. LeGoues, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 42, 11690 (1990).
6. F. K. LeGoues, M. Horn-von Hoegen, M. Copel, and R. M. Tromp, Phys. Rev. B 44, 12894 (1991).
7. M. Horn-von Hoegen, F. K. LeGoues, M. Copel, M. C. Reuter, and R. M. Tromp, Phys. Rev. Lett. 67, 1130 (1991).
8. G. Meyer, B. Voigtländer, and N. M. Amer, Surf. Sci. 274, L541 (1992).
9. E. Kaxiras, Europhys. Lett. 21, 685 (1993).
10. J. Falta, T. Schmidt, A. Hille, and G. Materlik, Phys. Rev. B 54, R17288 (1996).
11. T. Schmidt, J. Falta, G. Materlik, J. Zeysing, G. Falkenberg, and R. L. Johnson, Appl. Phys. Lett. 74, 1391 (1999).
12. K. Schroeder, A. Antons, R. Berger, and S. Blügel, Phys. Rev. Lett. 88, 046101 (2002).
13. M. Horn-von Hoegen, A. Al Falou, H. Pietsch, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 298, 29 (1993).
14. M. Horn-von Hoegen, M. Pook, A. Al Falou, B. H. Müller, and M. Henzler, Surf. Sci. 284, 53 (1993).
15. A. Janzen, I. Dumkow, and M. Horn-von Hoegen, Appl. Phys. Lett. 79, 2387 (2001).
16. D. K. Flynn, W. Wang, S.-L. Chang, M. C. Tringides, and P. A. Thiel, Langmuir 4, 1096 (1988).
17. E. Vlieg, J. Appl. Phys. 30, 532 (1997).
18. P. Zahl, P. Kury, and M. Horn-von Hoegen, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 69, 481 (1999).
19. J. Menendez and L. Kouvetakis, Appl. Phys. Lett. 85, 1175 (2004).
20. M. Horn-von Hoegen, F.-J. Meyer zu Heringdorf, M. Kammler, C. Schaffer, D. Reinking, and K. R. Hofmann, Thin Solid Films 343-344, 579 (1999).
21. J. Falta, M. Copel, F. K. LeGoues, and R. M. Tromp, Appl. Phys. Lett. 62, 2962 (1993).