Thickness Dependence of Infrared Optical Properties of LaNiO3 Thin Films Prepared on Platinized Silicon Substrates

Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers

Volumn 42, Issue 11, 2003, Pages 7045-7049

  Hu, Zhigao ^a   Meng, Xiangjian ^a   Huang, Zhiming ^a   Wang, Genshui ^a   Zhao, Qiang ^a   Chu, Junhao ^a  

^a SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL PHYSICS   (China)

Author keywords

Infrared optical properties; Infrared spectroscopic ellipsometry (IRSE); Lanthanum nickel oxide; Thickness dependence; Thin film

Indexed keywords

CRYSTAL STRUCTURE; CRYSTALLIZATION; DEPOSITION; ELLIPSOMETRY; INFRARED SPECTROSCOPY; LANTHANUM COMPOUNDS; LIGHT ABSORPTION; SILICON;

OPTICAL CONSTANTS;

FERROELECTRIC THIN FILMS;

EID: 1642577037     PISSN: 00214922     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1143/jjap.42.7045     Document Type: Article

References (30)

1. Y. H. Xu and J. D. Mackenzie: Integrared Ferroelectrics 1 (1992) 17.
2. R. Watton and P. Manning: Proc. SPIE 3436 (1998) 541.
3. C. M. Hanson, H. R. Beratan, J. F. Belcher, K. R. Udayakumar and K. L. Soch: Proc. SPIE 3379 (1998) 60.
4. H. Xu, K. Hashimoto, T. Mukaigawa, H. Zhu, R. Kubo, T. Usuki, H. Kishihara, M. Noda, Y. Suzaki and M. Okuyama: Proc. SPIE 4130 (2000) 140.
5. C. M. Wu, T. I. Hong and T. B. Wu: J. Mater. Res. 12 (1997) 2158.
6. M. S. Chen, J. M. Wu and T. B. Wu: Jpn. J. Appl. Phys. 34 (1995) 4870.
7. T. F. Tseng, C. C. Yang, K. S. Liu, J. M. Wu, T. B. Wu and I. N. Lin: Jpn. J. Appl. Phys. 35 (1996) 4743.
8. Y. Q. Xu, N. J. Wu and A. Ignatiev: J. Appl. Phys. 88 (2000) 1004.
9. P. G. Clem, B. A. Tuttle, J. A. Ruffner, C. J. Brinker, R. W. Schwartz, M. Rodriguez and W. L. Warren: Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 541 (1999) 661.
10. C. C. Yang, M. S. Chen, T. J. Hong, C. M. Wu and T. B. Wu: Appl. Phys. Lett. 66 (1995) 2643.
11. Y. Ju, J. L. Sun, X. J. Meng, Z. M. Huang, J. H. Chu, D. Y. Tang, C. Y. Jin, G. Li, W. Y. Li and Q. Liang: J. Appl. Phys. 90 (2001) 2699.
12. A. D. Li, C. Z. Ge, P. Lu and N. B. Ming: Appl. Phys. Lett. 69 (1996) 161.
13. J. Yu, Z. M. Huang, X. J. Meng, J. L. Sun, J. H. Chu and D. Y. Tang: Appl. Phys. Lett. 78 (2001) 793.
14. K. Sreedhar, J. M. Honig, M. Darwin, M. McElfresh, P. M. Shand, J. Xu, B. C. Crooker and I. Spalek: Phys. Rev. B 46 (1992) 6382.
15. R. D. Sanchez, M. T. Causa, A. Caneiro, A. Butera, M. Vallet-Regi, M. J. Sayagues, J. Gonzalez-Calbet, F. Garcia-Sanz and J. Rivas: Phys. Rev. B 54 (1996) 16574.
16. X. J. Meng, J. L. Sun, G. S. Wang, J. Yu, S. L. Guo and J. H. Chu: Appl. Surf. Sci. 171 (2001) 68.
17. Z. M. Huang, S. R. Jin, S. W. Chen, M. H. Chen, G. L. Shi, L. Y. Chen and J. H. Chu: Chin. J. Infrared Millim. Waves 17 (1998) 321.
18. Z. G. Hu, G. S. Wang, Z. M. Huang, X. J. Meng and J. H. Chu: J. Phys. D 35 (2002) 3221.
19. R. M. A. Azzam and N. M. Bashara: Ellipsometry and Polarized Light (North-Holland, Amsterdam, 1977) Chap. 4, p. 181.
20. P. G. Snyder and Y. M. Xiong: Surf. Interface Anal. 18 (1992) 107.
21. Z. M. Huang, X. J. Meng, P. X. Yang, Z. H. Zhang and J. H. Chu: Appl. Phys. Lett. 76 (2000) 3980.
22. E. D. Palik: Handbook of Optical Constants of Solids (Academic, Orlando. FL, 1985) p. 341.
23. D. H. Bao, X. Yao, N. Wakiya, K. Shinozaki and N. Mizutani: Appl. Phys. Lett. 79 (2001) 3767.
24. S. B. Majumder, M. Jain and R. S. Katiyar: Thin Solid Films 402 (2002) 90.
25. S. R. Ren, C. J. Lu, J. S. Liu, H. M. Shen and Y. N. Wang: Phys. Rev. B 54 (1996) R14337.
26. Y. Wang and N. Herron: J. Phys. Chem. 95 (1991) 525.
27. R. Banerjee, R. Jayakrishnan and P. Ayyub: J. Phys.: Condens. Matter 12 (2000) 10647.
28. F. Yan, P. Bao, H. L. W. Chan, C. L. Choy and Y. N. Wang: Thin Solid Films 406 (2002) 282.
29. E. Franke, C. L. Trimble, M. J. Devries, J. A. Woollam, M. Schubert and F. Frost: J. Appl. Phys. 88 (2000) 5166.
30. K. Ueno, W. Sakamoto, T. Yogo and S. I. Hirano: Jpn. J. Appl. Phys. 40 (2001) 6049.