-
2
-
-
0025597502
-
-
H. E. Boesch, Jr., T L. Taylor, L R. Hite, and W E. Beiley, IEEE Trans. Nucl. Sci.NS-37, 1982 (1990).
-
(1990)
IEEE Trans. Nucl. Sci.
, vol.NS-37
, pp. 1982
-
-
Boesch, H.E.1
Taylor, T.L.2
Hite, L.R.3
Beiley, W.E.4
-
3
-
-
0001598069
-
-
R. E. Stahlbush, G J. Campisi, J B. Mckitterick, W P. Maszara, P. Roitman, and G A. Brown, IEEE Trans. Nucl. Sci.NS-39, 2086 (1992).
-
(1992)
IEEE Trans. Nucl. Sci.
, vol.NS-39
, pp. 2086
-
-
Stahlbush, R.E.1
Campisi, G.J.2
Mckitterick, J.B.3
Maszara, W.P.4
Roitman, P.5
Brown, G.A.6
-
6
-
-
0001175808
-
-
V. V. Afanas’ev, A. Stesmans, A G. Revesz, and H L. Hughes, J. Appl. Phys.82, 2184 (1997).
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 2184
-
-
Afanas’ev, V.V.1
Stesmans, A.2
Revesz, A.G.3
Hughes, H.L.4
-
7
-
-
0029770081
-
-
K. S. Seol, A. Ieki, Y. Ohki, H. Nishikawa, and M. Tachimori, J. Appl. Phys.79, 412 (1996).
-
(1996)
J. Appl. Phys.
, vol.79
, pp. 412
-
-
Seol, K.S.1
Ieki, A.2
Ohki, Y.3
Nishikawa, H.4
Tachimori, M.5
-
11
-
-
0028384827
-
-
H. Nishikawa, E. Watanabe, D. Ito, and Y. Ohki, Phys. Rev. Lett.72, 2101 (1994).
-
(1994)
Phys. Rev. Lett.
, vol.72
, pp. 2101
-
-
Nishikawa, H.1
Watanabe, E.2
Ito, D.3
Ohki, Y.4
-
12
-
-
0029346366
-
-
H. Nishikawa, E. Watanabe, D. Ito, M. Takiyama, A. Ieki, and Y. Ohki, J. Appl. Phys.78, 842 (1995).
-
(1995)
J. Appl. Phys.
, vol.78
, pp. 842
-
-
Nishikawa, H.1
Watanabe, E.2
Ito, D.3
Takiyama, M.4
Ieki, A.5
Ohki, Y.6
-
13
-
-
0000197473
-
-
L. A. Kelly, J G. Trunk, K. Polewski, and J C. Sutherland, Rev. Sci. Instrum.66, 1496 (1995).
-
(1995)
Rev. Sci. Instrum.
, vol.66
, pp. 1496
-
-
Kelly, L.A.1
Trunk, J.G.2
Polewski, K.3
Sutherland, J.C.4
-
15
-
-
0000971016
-
-
H. Nishikawa, T. Shiroyama, R. Nakamura, Y. Ohki, K. Nagasawa, and Y. Hama, Phys. Rev. B45, 586 (1992).
-
(1992)
Phys. Rev. B
, vol.45
, pp. 586
-
-
Nishikawa, H.1
Shiroyama, T.2
Nakamura, R.3
Ohki, Y.4
Nagasawa, K.5
Hama, Y.6
-
17
-
-
33744807323
-
-
R.A.B. Devine, W L. Warren, J B. Xu, I H. Wilson, P. Paillet, and J.-L. Leray, J. Appl. Phys.77, 175 (1995).
-
(1995)
J. Appl. Phys.
, vol.77
, pp. 175
-
-
Devine, R.A.B.1
Warren, W.L.2
Xu, J.B.3
Wilson, I.H.4
Paillet, P.5
-L, J.6
-
20
-
-
36449000561
-
-
L. S. Liao, X M. Bao, X Q. Zheng, N S. Li, and N B. Min, Appl. Phys. Lett.68, 850 (1996).
-
(1996)
Appl. Phys. Lett.
, vol.68
, pp. 850
-
-
Liao, L.S.1
Bao, X.M.2
Zheng, X.Q.3
Li, N.S.4
Min, N.B.5
-
21
-
-
0013360441
-
-
A. Pifferi, P. Taroni, A. Torricelli, G. Valentini, P. Mutti, G. Ghislotti, and L. Zanghieri, Appl. Phys. Lett.70, 348 (1997).
-
(1997)
Appl. Phys. Lett.
, vol.70
, pp. 348
-
-
Pifferi, A.1
Taroni, P.2
Torricelli, A.3
Valentini, G.4
Mutti, P.5
Ghislotti, G.6
Zanghieri, L.7
-
25
-
-
16444367589
-
-
P. J. McMarr, B J. Mrstik, M E. Twigg, H L. Hughes, M J. Anc, P. Roitman, and G A. Garcia, GOMAC Digest22, 314 (1997).
-
(1997)
GOMAC Digest
, vol.22
, pp. 314
-
-
McMarr, P.J.1
Mrstik, B.J.2
Twigg, M.E.3
Hughes, H.L.4
Anc, M.J.5
Roitman, P.6
Garcia, G.A.7
-
26
-
-
0031150238
-
-
K. S. Seol, T. Karasawa, Y. Ohki, H. Nishikawa, and M. Takiyama, Microelectron. Eng.36, 193 (1997).
-
(1997)
Microelectron. Eng.
, vol.36
, pp. 193
-
-
Seol, K.S.1
Karasawa, T.2
Ohki, Y.3
Nishikawa, H.4
Takiyama, M.5
|