Effects of oxidation on band edge states in H-covered ultrasmall Si quantum boxes: Calculations of electronic states and oscillator strengths

Journal of Applied Physics

Volumn 94, Issue 10, 2003, Pages 6982-6984

  Nishida, Masahiko ^a  

^a KANAZAWA INSTITUTE OF TECHNOLOGY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CHEMICAL BONDS; ELECTRONIC STRUCTURE; ENERGY GAP; FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROSCOPY; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OXIDATION; OXYGEN; SURFACES;

BAND GAPS; QUANTUM BOXES (QB);

POROUS SILICON;

EID: 0344084090     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1621079     Document Type: Article

References (20)

1. A. G. Cullis, L. T. Canham, and P. D. J. Calcott, J. Appl. Phys. 82, 909 (1997).
2. A. Bsiesy, J. C. Vial, F. Gaspard, R. Herino, M. Ligeon, F. Muller, R. Romestain, A. Wasiela, A. Halimaoui, and G. Bomchil, Surf. Sci. 254, 195 (1991).
3. E. B. Vazsonyi, M. Koos, G. Jalsovszky, and I. Pocsik, J. Lumin. 57, 121 (1993); S. Shih, K. H. Jung, J. Yan, D. L. Kwong, M. Kovar, J. M. White, M. George, and S. Kim, Appl. Phys. Lett. 63, 3306 (1993); M. A. Hory, R. Herino, M. Ligeon, F. Muller, F. Gaspard, L. Mihalcesou, and J. C. Vial, Thin Solid Films 255, 200 (1995).
4. E. B. Vazsonyi, M. Koos, G. Jalsovszky, and I. Pocsik, J. Lumin. 57, 121 (1993); S. Shih, K. H. Jung, J. Yan, D. L. Kwong, M. Kovar, J. M. White, M. George, and S. Kim, Appl. Phys. Lett. 63, 3306 (1993); M. A. Hory, R. Herino, M. Ligeon, F. Muller, F. Gaspard, L. Mihalcesou, and J. C. Vial, Thin Solid Films 255, 200 (1995).
5. E. B. Vazsonyi, M. Koos, G. Jalsovszky, and I. Pocsik, J. Lumin. 57, 121 (1993); S. Shih, K. H. Jung, J. Yan, D. L. Kwong, M. Kovar, J. M. White, M. George, and S. Kim, Appl. Phys. Lett. 63, 3306 (1993); M. A. Hory, R. Herino, M. Ligeon, F. Muller, F. Gaspard, L. Mihalcesou, and J. C. Vial, Thin Solid Films 255, 200 (1995).
6. Y. Kato, T. Ito, and A. Hiraki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 27, L1406 (1988); P. Gupta, A. C. Dillon, A. S. Bracker, and S. M. George, Surf. Sci. 245, 360 (1991); K. H. Li, C. Tsai, and J. C. Cambell, J. Electron. Mater. 23, 409 (1994); Y. Ogata, H. Niki, T. Sakka, and M. Iwasaki, J. Electrochem. Soc. 142, 1595 (1995); D. B. Mamhinney, J. A. Glass, Jr., and J. T. Yates, Jr., J. Phys. Chem. B 101, 1202 (1997); and references therein.
7. Y. Kato, T. Ito, and A. Hiraki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 27, L1406 (1988); P. Gupta, A. C. Dillon, A. S. Bracker, and S. M. George, Surf. Sci. 245, 360 (1991); K. H. Li, C. Tsai, and J. C. Cambell, J. Electron. Mater. 23, 409 (1994); Y. Ogata, H. Niki, T. Sakka, and M. Iwasaki, J. Electrochem. Soc. 142, 1595 (1995); D. B. Mamhinney, J. A. Glass, Jr., and J. T. Yates, Jr., J. Phys. Chem. B 101, 1202 (1997); and references therein.
8. Y. Kato, T. Ito, and A. Hiraki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 27, L1406 (1988); P. Gupta, A. C. Dillon, A. S. Bracker, and S. M. George, Surf. Sci. 245, 360 (1991); K. H. Li, C. Tsai, and J. C. Cambell, J. Electron. Mater. 23, 409 (1994); Y. Ogata, H. Niki, T. Sakka, and M. Iwasaki, J. Electrochem. Soc. 142, 1595 (1995); D. B. Mamhinney, J. A. Glass, Jr., and J. T. Yates, Jr., J. Phys. Chem. B 101, 1202 (1997); and references therein.
9. Y. Kato, T. Ito, and A. Hiraki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 27, L1406 (1988); P. Gupta, A. C. Dillon, A. S. Bracker, and S. M. George, Surf. Sci. 245, 360 (1991); K. H. Li, C. Tsai, and J. C. Cambell, J. Electron. Mater. 23, 409 (1994); Y. Ogata, H. Niki, T. Sakka, and M. Iwasaki, J. Electrochem. Soc. 142, 1595 (1995); D. B. Mamhinney, J. A. Glass, Jr., and J. T. Yates, Jr., J. Phys. Chem. B 101, 1202 (1997); and references therein.
10. Y. Kato, T. Ito, and A. Hiraki, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 27, L1406 (1988); P. Gupta, A. C. Dillon, A. S. Bracker, and S. M. George, Surf. Sci. 245, 360 (1991); K. H. Li, C. Tsai, and J. C. Cambell, J. Electron. Mater. 23, 409 (1994); Y. Ogata, H. Niki, T. Sakka, and M. Iwasaki, J. Electrochem. Soc. 142, 1595 (1995); D. B. Mamhinney, J. A. Glass, Jr., and J. T. Yates, Jr., J. Phys. Chem. B 101, 1202 (1997); and references therein.
11. P. O'Keeffe, S. Komuro, T. Kato, T. Morikawa, and Y. Aoyagi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 33, 7117 (1994); Appl. Phys. Lett. 66, 836 (1995); H. Chen, X. Hou, G. Li, F. Zhang, M. Yu, and X. Wang, J. Appl. Phys. 79, 3282 (1996).
12. P. O'Keeffe, S. Komuro, T. Kato, T. Morikawa, and Y. Aoyagi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 33, 7117 (1994); Appl. Phys. Lett. 66, 836 (1995); H. Chen, X. Hou, G. Li, F. Zhang, M. Yu, and X. Wang, J. Appl. Phys. 79, 3282 (1996).
13. P. O'Keeffe, S. Komuro, T. Kato, T. Morikawa, and Y. Aoyagi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 33, 7117 (1994); Appl. Phys. Lett. 66, 836 (1995); H. Chen, X. Hou, G. Li, F. Zhang, M. Yu, and X. Wang, J. Appl. Phys. 79, 3282 (1996).
14. M. Nishida, Solid State Commun. 121, 127 (2002); Philos. Mag. Lett. 82, 313 (2002); Phys. Rev. B 66, 125313 (2002).
15. M. Nishida, Solid State Commun. 121, 127 (2002); Philos. Mag. Lett. 82, 313 (2002); Phys. Rev. B 66, 125313 (2002).
16. M. Nishida, Solid State Commun. 121, 127 (2002); Philos. Mag. Lett. 82, 313 (2002); Phys. Rev. B 66, 125313 (2002).
17. F. Mauri, A. Pasquarello, B. G. Pfrommer, Y. Yoon, and S. G. Louie, Phys. Rev. B 62, R4786 (2000).
18. M. Nishida, Phys. Rev. B 58, 7103 (1998).
19. M. V. Wolkin, J. Jorne, P. M. Fauchet, G. Allan, and C. Delerue, Phys. Rev. Lett. 82, 197 (1999).
20. A. Puzder, A. J. Williamson, J. C. Grossman, and G. Galli, J. Chem. Phys. 117, 6721 (2002).