Dynamical simulations of zone axis electron channelling patterns of cubic silicon carbide

Ultramicroscopy

Volumn 98, Issue 1, 2003, Pages 1-7

  Winkelmann, Aimo ^a   Schröter, Bernd ^a   Richter, Wolfgang ^a  

^a FRIEDRICH SCHILLER UNIVERSITY JENA   (Germany)

Author keywords

Computer simulations; Electron diffraction; Silicon carbide; Single crystal surfaces

Indexed keywords

BACKSCATTERING; KINETIC ENERGY; SILICON CARBIDE;

ELECTRON CHANNELING PATTERNS (ECP);

MICROSCOPIC EXAMINATION;

SILICON CARBIDE;

ARTICLE; COMPUTER SIMULATION; DIFFRACTION; ELECTRON; ELECTRON BEAM; ELECTRON CHANNELLING PATTERN; ENERGY; KINETICS;

EID: 0242678449     PISSN: 03043991     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0304-3991(03)00021-4     Document Type: Article

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