Tip-sample distance dependence in the STM-based orbital-mediated tunneling spectrum of nickel(II) tetraphenylporphyrin deposited on Au(111)

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 107, Issue 39, 2003, Pages 10736-10740

  Deng, Wenli ^a   Hipps, K W ^a  

^a WASHINGTON STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

COMPOSITION; INFRARED SPECTROSCOPY; MATHEMATICAL MODELS; MOLECULAR ORIENTATION; OXIDATION; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; ULTRAHIGH VACUUM; VAPOR DEPOSITION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

NICKEL TETRAPHENYLPORPHYRIN; ORBITAL MEDIATED TUNNELING SPECTRUM;

ORGANOMETALLICS;

EID: 0142072005     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp034900o     Document Type: Article

References (56)

1. Collman, J. P.; Halbert, T. R.; Suslick, K. S. Metal Ions in Biology; Spiro, T. G., Ed.; Wiley: New York, 1980, Vol.2, p 1.
2. Jones, D.; Hinman, A. S. J. Chem. Soc., Dalton Trans. 1992, 1503.
3. Unger, E.; Beck, M.; Lipski, R.; Dreybodt, W.; Medforth, C. J.; Smith, K.; Schweitzer-Stenner, R. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 10022.
4. Pendergast, K.; Spiro, T. G. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 3793-3901.
5. Piffat, C.; Melamed, D.; Spiro, G. J. Phys. Chem. 1993, 97, 7441.
6. Jentzen, W.; Unger, E.; Song, X.; Jia, S.; Tyek, I. T.; Stenner, R. S.; Draybrodt, W.; Scheidt, W. R.; Shelnutt, J. A. J. Phys. Chem. A 1997, 101, 5789.
7. Paolesse, R.; Di Natale, C.; Dall'Orto, V.; Macagnano, A.; Angelaccio, A.; Motta, N.; Sgarlata, A.; Hurst, J.; Rezzano, I.; Mascini, M.; D'Amico, A. Thin Solid Films 1999, 354, 245.
8. Atamian, M.; Donohoe, R. J.; Lindsey, J. S.; Bocian, D. F. J. Phys. Chem. 1989, 93, 2236.
9. Duong, B.; Arechabaleta, R.; Tao, N. J. J. Electroanal. Chem. 1998, 447, 63.
10. Kunitake, M.; Batina, N.; Itaya, K. Langmuir 1995, 11, 2337.
11. Ogaki, K.; Batina, N.; Kuniake, M.; Itaya, K. J. Phys. Chem. 1996, 100, 7185.
12. Kunitake, M.; Akiba, U.; Batina, N.; Itaya, K. Langmuir 1997, 13 1607.
13. Han, W.; Durantini, E. N.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Gust, D.; Rez, P.; Letherman, G.; Seeley, G.; Tao, N.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 10719.
14. Tao, N. J. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 4066.
15. Tao, N. J.; Cardenas, G.; Cunha, F.; Shi, Z. Langmuir 1995, 11, 4445.
16. Palacin, S.; Ruaudel-Teixier, A.; Barraud, A. J. Phys. Chem. 1986, 90, 6237.
17. Shimazu, K.; Takechi, M.; Fugii, H.; Suzuki, M.; Saiki, H.; Yoshimura, T.; Uosaki, K. Thin Solid Films 1996, 273, 250.
18. Thomas, P.; Berovic, N.; Laitenberger, P.; Palmer, R.; Bampos, N.; Sanders, J. Chem. Phys. Lett. 1998, 294, 229.
19. Furukawa, M.; Tanaka, H.; Sugiura, K.; Sakata, Y.; Kawai, T. Surf. Sci. 2000, 445, L58.
20. Yangi, H,; Ashida, M.; Harima, Y.; Yamashita, K. Chem. Lett. 1990, 385.
21. Jung, T. A.; Schlittler, R. R.; Gimzewski, J. K.; Tang, H.; Joachim, C. Science 1996, 271, 181.
22. Gimzewski, J. K.; Jung, T. A.; Cuberes, M. T.; Schlittler, R. R. Surf. Sci. 1997, 386, 101.
23. Scudiero, L.; Barlow, D. E.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11899.
24. Scudiero, L.; Barlow, D. E.; Mazur, U.; Hipps, K. W. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 4073.
25. Lu, X.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 5391.
26. Lu, X.; Hipps, K.W.; Wang, X. D.; Mazur, U. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 7197.
27. Barlow, D.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 2444.
28. Scudiero,. I.; Barlow, D. E.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 996.
29. Schmickler, W., J. Electroanal. Chem. 1990, 296, 283.
30. Onipko, A. I.; Berggren, K.-F.; Klymenko, Yu. O.; Malysheva, L. I.; Rosink, J. J. W. M.; Geerligs, L. J.; van der Drift, E.; Radelaar, S. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2000, 61, 11118.
31. Plihal, M.; Gadzuk, J. W. Phys. Rev. B: Condens. Matter Mater. Phys. 2001, 63, 085404/1.
32. Sumi, H. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 1833.
33. Zhang, J.; Chi, Q.; Kuznetsov, A. M.; Hansen, A.; Wackerbarth, H.; Christensen, H. E.; Andersen, J.; Ulstrup, J. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 1131.
34. Bakkers, E. P.; Hens, Z.; Kouwenhoven, L. P.; Gurevich, L.; Vanmaekelbergh, D. Nanotechnology 2002, 13, 258.
35. Katz, D.; Millo, O.; Kan, S.; Banin, U. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 117.
36. Snyder, S. R.; White, H. S. J. Electroanal. Chem. 1995, 394, 177.
37. Cannaerts, M.; Nesladek, M.; Haenen, K.; De Schepper, L.; Stals, L. M.; Van Haesendonck, C. Diamond Relat. Mater. 2002, 11, 212.
38. Gasparov, V.; Riehl-Chudoba, M.; Schroter, M.; Richter, W. Europhys. Lett. 2000, 51, 527.
39. Han, W.; Durantini, E. N.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Gust, D.; Rez, P.; Letherman, G.; Seely, G.; Tao, N.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 10719.
40. Klusek, Z. Electron Technol. 2000, 33, 344.
41. Muller, A.-D.; Muller, F.; Hietschold, M. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 2963.
42. Barth, J. V.; Brune, H.; Ertl, G.; Behm, R. J. Phys. Rev. B 1990, 42, 9307.
43. Hipps, K. W.; Scudiero, L.; Barlow, D. E.; Cooke, M. P. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 2126.
44. Hipps, K. W.; Scudiero, L.; Barlow, D. E. J. Phys. Chem. B 2003 107, 2903.
45. Stroscio, J. A.; Feenstra, R. M.; Fein, A. P Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 2579.
46. Feenstra, R. M. Phys. Rev. B 1994, 50, 4561.
47. Stroscio, J. A.; Feenstra, R. M.; Scanning Tunneling Microscopy; Stroscio J. A., Kaiser W. J., Eds.; Methods in Experimental Physics 27; Academic: New York, 1993.
48. Ukraintsev, V. A. Phys. Rev. B 1996, 53, 11176.
49. Feenstra, R. M., Phys. Rev. B 1994, 50, 4561.
50. Landauer, R. Z. Phys. B 1987, 68, 217.
51. Yazdani, A.; Eigler, D. M.; Lang, N. D. Science 1996, 272, 1921.
52. Datta, S.; Tian, W.; Hong, S.; Reifenberger, R.; Henderson, J.; Kubiak, C. P. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 2530.
53. Tian, W.; Datta, S.; Hong, S.; Reifenberger, R.; Henderson, J.; Kubiak, C. J. Chem. Phys. 1998, 109, 2874.
54. Mujica, V.; Roitberg, A.; Ratner, M. J. Chem. Phys. 2000, 112, 6834.
55. Damle, P. S.; Ghosh, A.; Datta, S. Phys. Rev. B 2001, 64, 201403.
56. Nitzan, A.; Galperin, M.; Ingold, G.; Grabert, H. J. Chem. Phys. 2002, 117, 10837.