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Volumn 75, Issue 7, 1999, Pages 920-922

Measurement of mechanical resonance and losses in nanometer scale silicon wires

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EID: 0042760419     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.124554     Document Type: Article
Times cited : (284)

References (16)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.