Optical Testing of Refractive Microlenses;Optikprüfung von refraktiven Mikrolinsen

Technisches Messen

Volumn 69, Issue 11, 2002, Pages 467-482

  Schwider, J ^a   Lindlein, N ^a   Schreiner, R ^a   Lamprecht, J ^a   Leuchs, G ^a   Pfund, J ^b   Beyerlein, M ^b  

^a UNIVERSITY OF ERLANGEN NUREMBERG   (Germany)

^b OPTOCRAFT GMBH   (Germany)

Author keywords

Aberrations measurement; Diffractive beam splitters; Interferometry; Microlenses; Wave front sensors

Indexed keywords

DIELECTRIC SUBSTRATES; DIFFRACTIVE BEAM SPLITTER; REFRACTIVE MICROLENSE; SHEARING INTERFEROMETER; SINGLE-PASS GEOMETRY; SURFACE DEVIATIONS; TWYMAN-GREEN INTERFEROMETERS; WAVE FRONT SENSORS;

INTERFEROMETERS; MICROLENSES; PRISMS; REFRACTIVE INDEX; SHEARING;

INTERFEROMETRY;

EID: 0042377602     PISSN: 01718096     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

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