X-ray analysis of self-organized InAs/InGaAs quantum dot structure

Crystal Research and Technology

Volumn 34, Issue 1, 1999, Pages 89-102

  Krost, A ^a   Heinrichsdorff, F ^a   Bimberg, D ^a   Blasing J ^b   Darhuber, A ^c   Bauer, G ^c  

^a TECHNISCHE UNIVERSITÄT BERLIN   (Germany)

^b OTTO VON GUERICKE UNIVERSITY   (Germany)

^c JOHANNES KEPLER UNIVERSITY LINZ   (Austria)

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EID: 0042359508     PISSN: 02321300     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-4079(199901)34:1<89::AID-CRAT89>3.0.CO;2-U     Document Type: Article

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