Transmission electron microscopy and cathodoluminescence studies of extended defects in electron-beam-pumped Zn1-xCdxSe/ZnSe blue-green lasers

Journal of Applied Physics

Volumn 83, Issue 4, 1998, Pages 1945-1952

  Bonard, Jean Marc ^a   Ganière, Jean Daniel ^a   Vanzetti, Lia ^a,c   Paggel, Jens J ^a,d   Sorba, Lucia ^a,e   Franciosi, Alfonso ^a,f   Hervé, Denis ^b,g   Molva, Engin ^b  

^a EPFL   (Switzerland)

^b CEA LETI   (France)

^c Centro Materiali Biofisica Medica   (Italy)

^d PHILIPPS UNIVERSITY MARBURG   (Germany)

^e CNR   (Italy)

^f UNIVERSITY OF TRIESTE   (Italy)

^g CERN   (Switzerland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0041502740     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.366919     Document Type: Article

References (27)

1. S. Tanigushi, T. Hino, S. Itoh, K. Nakano, N. Nakayama, A. Ishibashi, and M. Ikeda, Electron. Lett. 32, 552 (1996).
2. J. R. Kim and K. S. Jones, Crit. Rev. Solid State Sci. 7, 1 (1996).
3. K. Nakano, S. Tomiya, M. Ukita, H. Yoshida, S. Itoh, E. Morita, M. Ikeda, and A. Ishibashi, J. Electron. Mater. 25, 213 (1996).
4. D. Hervé, R. Accomo, E. Molva, L. Vanzetti, J. J. Paggel, L. Sorba, and A. Franciosi, Appl. Phys. Lett. 67, 2144 (1995); D. Hervé, E. Molva, L. Vanzetti, L. Sorba, and A. Franciosi, Electron. Lett. 31, 459 (1995).
5. D. Hervé, R. Accomo, E. Molva, L. Vanzetti, J. J. Paggel, L. Sorba, and A. Franciosi, Appl. Phys. Lett. 67, 2144 (1995); D. Hervé, E. Molva, L. Vanzetti, L. Sorba, and A. Franciosi, Electron. Lett. 31, 459 (1995).
6. E. Molva, R. Accomo, G. Labrunie, J. Cibert, C. Bodin, L. S. Dang, and G. Feuillet, Appl. Phys. Lett. 62, 296 (1993).
7. W. S. Tsang, Appl. Phys. Lett. 39, 134 (1981).
8. P. M. Petroff, R. A. Logan, and A. Savage, Phys. Rev. Lett. 44, 287 (1980).
9. L. Calcagnile, M. Lomascolo, D. Cannoletta, R. Cingolani, L. Sorba, L. Vanzetti, and A. Franciosi (unpublished).
10. D. Hull and D. J. Bacon, Introduction to Dislocations, 3rd ed. (Pergamon, Oxford, 1984).
11. The width of the contrast of a stacking fault observed in plan-view near the [001] zone axis is in first approximation equal to the thickness of the foil divided by √2, i.e., the tangent of the angle between the {111} fault plane and the (001) interface plane: tan(54.7°)= √2.
12. J.-M. Bonard, J.-D. Ganière, L. Vanzetti, L. Sorba, A. Franciosi, D. Hervé, and E. Molva, Inst. Phys. Conf. Ser. 146, 755 (1995).
13. J. Petruzzello, B. Greenberg, D. Cammack, and R. Dalby, J. Appl. Phys. 63, 2299 (1988).
14. S. Heun, J. J. Paggel, L. Sorba, S. Rubini, A. Bonanni, R. Lantier, M. Lazzarino, B. Bonanni, A. Franciosi, J.-M. Bonard, J.-D. Ganière, Y. Zhuang and G. Bauer (unpublished).
15. J. H. Li, G. Bauer, J. Stangl, L. Vanzetti, L. Sorba, and A. Franciosi, J. Appl. Phys. 80, 81 (1996).
16. G. C. Hua, N. Otsuka, W. Xie, D. C. Grillo, M. Kobayashi, and R. L. Gunshor, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 242, 221 (1992).
17. N. Yamada, G. Roos, and J. S. Harris, Jr., Appl. Phys. Lett. 59, 1040 (1991).
18. D. Bimberg, J. Christen, T. Funukaga, H. Nakashima, D. E. Mars, and J. N. Miller, J. Vac. Sci. Technol. B 5, 1191 (1987).
19. J.-M. Bonard, Ph.D. thesis, Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne, Lausanne, 1996.
20. J.-M. Bonard, J.-D. Ganière, L. Vanzetti, J. J. Paggel, L. Sorba, A. Franciosi, D. Hervé, and E. Molva (unpublished).
21. S. Guha, J. M. DePuydt, M. A. Haase, J. Qiu, and H. Cheng, Appl. Phys. Lett. 63, 3107 (1993).
22. S. Tomiya, E. Morita, M. Ukita, H. Okuyama, S. Itoh, K. Nakano, and A. Ishibashi, Appl. Phys. Lett. 66, 1209 (1995).
23. G. M. Haugen, S. Guha, H. Cheng, J. M. DePuydt, M. A. Haase, G. E. Höfler, J. Qiu, and B. J. Wu, Appl. Phys. Lett. 66, 358 (1995).
24. L. Salamanca-Riba and L. H. Kuo, J. Electron. Mater. 25, 239 (1996).
25. S. Guha, H. Cheng, J. M. DePuydt, M. A. Haase, and J. Qiu. Mater. Sci. Eng. B 28, 29 (1994).
26. M. Hovinen, J. Ding, A. Salokatve, A. V. Nurmikko, G. C. Hua, D. C. Grillo, L. He, J. Han, M. Ringle, and R. L. Gunshor, Appl. Phys. Lett. 66, 2013 (1995).
27. G. D. U'Ren, G. M. Haugen, P. F. Baude, M. A. Haase, K. K. Law, T. J. Miller, and B. J. Wu, Appl. Phys. Lett. 67, 3862 (1995).