Thickness dependence of dielectric loss in SrTiO3 thin films

Applied Physics Letters

Volumn 73, Issue 4, 1998, Pages 464-466

  Li, Hong Cheng ^a,b   Si, Weidong ^a   West, Alexander D ^a   Xi, X X ^a  

^a PENNSYLVANIA STATE UNIVERSITY   (United States)

^b INSTITUTE OF PHYSICS   (China)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0039808459     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.121901     Document Type: Article

References (27)

1. C. M. Jackson, J. H. Kobayashi, D. Durand, and A. H. Silver, Microwave J. 33, 72 (1992);
2. O. G. Vendik, L. T. Ter-Martirosyan, A. I. Dedyk, S. F. Karmanenko, and R. A. Chakalov, Ferroelectrics 144, 33 (1993);
3. A. M. Hermann, R. M. Yandrofski, J. F. Scott, A. Naziripour, D. Galt, J. C. Price, J. Cuchario, and R. K. Ahrenkiel, J. Supercond. 7, 463 (1994).
4. X. X. Xi, Proc. SPIE 2991, 255 (1997).
5. M. A. Saifi and L. E. Cross, Phys. Rev. B 2, 677 (1970);
6. H.-M. Christen, J. Mannhart, E. J. Williams, and Ch. Gerber, Phys. Rev. B 49, 12095 (1994).
7. A. T. Findikoglu, C. Doughty, S. M. Anlage, Q. Li, X. X. Xi, and T. Venkatesan, Appl. Phys. Lett. 63, 3215 (1993).
8. M. J. Dalberth, J. C. Price, and C. T. Rogers (unpublished);
9. M. J. Dalberth, R. E. Stauber, J. C. Price, C. T. Rogers, and D. Galt, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 474, 43 (1997).
10. L. A. Knauss, J. M. Pond, J. S. Horwitz, D. B. Chrisey, C. H. Mueller, and R. E. Treece, Appl. Phys. Lett. 69, 25 (1996).
11. R. E. Treece, J. B. Thompson, C. H. Mueller, T. Rivkin, and M. W. Cromar, IEEE Trans. Appl. Supercond. 7, 2363 (1997);
12. C. H. Mueller, R. E. Treece, T. V. Rivkin, F. A. Miranda, H. R. Moutinho, A. Swartzlander-Franz, M. J. Dalberth, and C. T. Rogers, IEEE Trans. Appl. Supercond. 7, 3512 (1997).
13. R. Viana, P. Lunkenheimer, J. Hemberger, R. Böhmer, and A. Loidl, Phys. Rev. B 50, 601 (1994).
14. K. Abe and S. Komatsu, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 32, L1157 (1993);
15. C. Zhou and D. M. Newns, J. Appl. Phys. 82, 3081 (1997).
16. C. Basceri, S. K. Streiffer, A. I. Kingon, and R. Waser, J. Appl. Phys. 82, 2497 (1997).
17. H.-C. Li, W. Si, A. D. West, and X. X. Xi, Appl. Phys. Lett. (to be published).
18. C. B. Eom, R. J. Cava, R. M. Fleming, J. M. Philipps, R. B. van Dover, J. H. Marshall, J. W. P. Hsu, J. J. Krajewski, and W. F. Peck, Jr., Science 258, 1766 (1992).
19. K. Alex Müller, W. Berlinger, and E. Tosatti, Z. Phys. B 84, 277 (1991).
20. D. R. Tilley, in Ferroelectric Ceramics, edited by N. Setter and E. L. Colla (Birkhäuser, Basel, 1993), p. 163.
21. O. G. Vendik and L. T. Ter-Martirosyan, Phys. Solid State 36, 1778 (1994);
22. O. G. Vendik and L. T. Ter-Martirosyan, Tech. Phys. 41, 348 (1996).
23. H. Uwe and T. Sakudo, Phys. Rev. B 13, 271 (1976).
24. D. E. Grupp and A. M. Goldman, Phys. Rev. Lett. 78, 3511 (1997).
25. J. Hemberger, P. Lunkenheimer, R. Viana, R. Böhmer, and A. Loidl, Phys. Rev. B 52, 13159 (1995).
26. D. Galt, T. Rivkina, and M. W. Cromar (unpublished).
27. J. D. Baniecki, R. B. Laibowitz, T. M. Shaw, P. R. Duncombe, D. A. Neumayer, D. E. Kotecki, H. Shen, and Q. Y. Ma, Appl. Phys. Lett. 72, 498 (1998).