Electron field emission from sulfur-incorporated nanocrystalline carbon thin films

Applied Physics Letters

Volumn 79, Issue 21, 2001, Pages 3446-3449

  Gupta, S ^a   Weiss, B L ^a   Weiner, B R ^a   Morell, G ^a  

^a UNIVERSITY OF PUERTO RICO   (Puerto Rico)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035914931     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1411988     Document Type: Article

References (29)

1. C. A. Spindt, I. Brodie, L. Humphrey, and E. R. Westerberg, J. Appl. Phys. 47, 5248 (1976).
2. J. A. Castellano, in Handbook of Display Technology (Academic, New York, 1992).
3. J. E. Jaskie, Mater. Res. Bull. 21, 59 (1996).
4. B. L. Weiss, A. Badzian, L. Pilione, T. Badzian, and W. Drawl, Appl. Phys. Lett. 71, 794 (1997).
5. J. Robertson, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 509, 83 (1998). and references therein.
6. A. Hart, B. S. Satyanarayana, W. I. Milne, and J. Robertson, Diamond Relat. Mater. 8, 809 (1999).
7. A. V. Karabutov, V. I. Konov, S. M. Pimenov, E. D. Obraztsova, V. D. Frolov, V. G. Pereverzev, and A. A. Smolin, J. Wide Bandgap Mater. 7, 68 (1999).
8. A. A. Tallin, L. S. Pan, K. F. McCarty, T. E. Feller, H. J. Doerr, and R. F. Bunshah, Appl. Phys. Lett. 69, 3842 (1996).
9. M. W. Geis, N. N. Efremow, J. D. Woodhouse, and M. D. McAleese, IEEE Trans. Electron Devices 12, 456 (1991).
10. G. A. J. Amartunga and S. R. P. Silva, Appl. Phys. Lett. 68, 2529 (1996).
11. C. Wang, A. Garcia, D. C. Ingran, M. Lake, and M. E. Kordesch, Electron. Lett. 27, 1459 (1991).
12. B. L. Weiss, A. Badzian, L. Pilione, T. Badzian, and W. Drawl, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 681 (1998).
13. K. Okano, S. Koizumi, S. Ravi, P. Silva, and G. A. J. Amartunga, Nature (London) 381, 140 (1996).
14. R. Haubner, S. Bohr, and B. Lux, Diamond Relat. Mater. 8, 171 (1999).
15. S. Bhattacharyya, K. Walzer, H. Hietschold, and F. Richter, J. Appl. Phys. 89, 1619 (2001).
16. B. F. Coll, J. E. Jaskie, J. L. Markahm, E. P. Menu, A. A. Talin, and P. VonAllmen, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 498, 274 (1998).
17. I. Sakaguchi, M. N. Gamo, Y. Kikuchi, E. Yasu, H. Haneda, T. Suzuki, and T. Ando, Phys. Rev. B 60, R2139 (1999); M. N. Gamo, C. Xiao, Y. Zhang, E. Yasu, Y. Kikuchi, I. Sakaguchi, T. Suzuki, Y. Sato, and T. Ando, Thin Solid Films 382, 113 (2001).
18. I. Sakaguchi, M. N. Gamo, Y. Kikuchi, E. Yasu, H. Haneda, T. Suzuki, and T. Ando, Phys. Rev. B 60, R2139 (1999); M. N. Gamo, C. Xiao, Y. Zhang, E. Yasu, Y. Kikuchi, I. Sakaguchi, T. Suzuki, Y. Sato, and T. Ando, Thin Solid Films 382, 113 (2001).
19. R. Kalish, A. Reznik, C. Uzan-Saguy, and C. Cytermann, Appl. Phys. Lett. 76, 757 (2000), and references therein.
20. D. Saada, J. Adler, and R. Kalish, Appl. Phys. Lett. 77, 878 (2000).
21. S. Gupta, B. R. Weiner, and G. Morell, Diamond Relat. Mater. 10, 1968 (2001).
22. O. Groning, O. M. Kuttel, P. Groning, and L. Schlapbach, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 1970 (1999), and references therein.
23. R. J. Nemanich, J. T. Glass, G. Luckovsky, and R. E. Schroder, J. Vac. Sci. Technol. A 6, 1783 (1988).
24. A. C. Ferrari and J. Robertson, Phys. Rev. B 61, 14095 (2001).
25. J. Shiao, C. A. Zorman, and R. W. Hoffman, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 349, 465 (1994).
26. S. Gupta, B. L. Weiss, B. R. Weiner, and G. Morell, J. Appl. Phys. 89, 5671 (2001).
27. W. Zhu, G. P. Kochanski, and S. Jin, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 509, 53 (1998); W. Zhu, G. P. Kochanski, S. Jin, and L. Seibles, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 2011 (1996).
28. W. Zhu, G. P. Kochanski, and S. Jin, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 509, 53 (1998); W. Zhu, G. P. Kochanski, S. Jin, and L. Seibles, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 2011 (1996).
29. G. Pananakis, G. Ghibando, R. Kies, and C. Papadas, J. Appl. Phys. 78, 2635 (1995).