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Volumn 43, Issue 9, 2001, Pages 1633-1636

X-ray and luminescent analysis of finely dispersed β-FeSi2 films formed in Si by pulsed ion-beam treatment

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EID: 0035457661     PISSN: 10637834     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/1.1402214     Document Type: Article
Times cited : (2)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.