Identification of B-form DNA in an ultrahigh vacuum by noncontact-mode atomic force microscopy

Langmuir

Volumn 16, Issue 3, 2000, Pages 1349-1353

  Uchihashi, Takayuki ^a   Tanigawa, Masato ^a   Ashino, Makoto ^a   Sugawara, Yasuhiro ^a,b   Yokoyama, Kousuke ^b   Morita, Seizo ^b   Ishikawa, Mitsuru ^a  

^a JT RES CENTER FOR ATOM TECHNOLOGY   (Japan)

^b OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CONFORMATIONS; MOLECULAR DYNAMICS; MOLECULAR STRUCTURE;

B-FORM DNA; NONCONTACT MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ULTRAHIGH VACUUM;

DNA;

EID: 0034620406     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la991025i     Document Type: Article

References (29)

1. Hansma, H. G.; Vesenka, J.; Siegerist, C.; Kelderman, G.; Morrett, H.; Sinsheimer, R. L.; Elings, V.; Bustamante, C.; Hansma, P. K. Science 1992, 256, 1180.
2. Hansma, H. G.; Sinsheimer, R. L.; Li, M, -Q.; Hansma, P. K. Nucleic Acids Res. 1992, 20, 3585.
3. Rees, W. A.; Keller, R. W.; Vesenka, J. P.; Yang, G.; Bustamante, C. Science 1993, 260, 1646.
4. Erie, D. A.; Yang, G.; Schultz, H. C.; Bustamante, C. Science 1994, 266, 1562.
5. Thundat, T.; Allison, D. P.; Warmack, R. J. Nucleic Acids Res. 1994, 22, 4224.
6. Mou, J.; Czajkowsky, D, M.; Zhang, Y.; Shao, Z. FEBS Lett. 1995, 371, 279.
7. Hansma, H. G.; Laney, D. E.; Bezanilla, M.; Sinsheimer R. L.; Hansma, P. K. Biophys. J. 1995,68, 1672.
8. Han, W.; Lindsay, S. M.; Jing, T. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 4111.
9. Hansma, H. G.; Revenko, I.; Kim, K.; Laney, D. E. Nucleic Acids Res. 1996, 24, 713.
10. Rivetti, C.; Guthold, M.; Bustamante, C. J. Mol. Biol. 1996, 264, 919.
11. Han, W.; Lindsay, S. M.; Dlakic, M.; Harrington, R. E. Nature 1997, 386, 563.
12. Zhong, Q.; Innis, D.; Kjoller, K.; Elings, V. B. Surf. Sci. Lett. 1993, 290, L688.
13. Hansma, P. K.; Cleveland, J. P.; Radmacher, M.; Walters, D. A.; Hillner, P. E.; Bezanilla, M.; Fritz, M.; Vie, D.; Hansma, H. G.; Prater, C. B.; Massie, J.; Fukunaga, L.; Gurley, J.; Elings, V. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 1738.
14. Albrecht, T. R.; Grütter, P.; Horne, D.; Rugar, D. J. Appl. Phys. 1991, 69, 668.
15. Giessibl, F. J. Science 1995, 267, 68.
16. Kitamura, S.; Iwatsuki, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, L145.
17. Sugawara, Y.; Ohta, M.; Ueyama, H.; Morita, S. Science 1995, 270, 1646.
18. Bammerlin, M.; Lüthi, R.; Meyer, E.; Baratoff, A.; Lu, J.; Guggisberg, M.; Gerber, Ch., Howald, L.; Güntherodt, H.-J. Probe Microsc. 1997, 3-7, 1.
19. Loppacher, Ch.; Bammerlin, M.; Guggisberg, M.; Battiston, F.; Bennewitz, R.; Rast, S.; Baratoff, A.; Meyer, E.; Güntherodt, H.-J. Appl. Surf. Sci. 1999, 140, 287.
20. Orisaka, S.; Minobe, T.; Uchihashi, T.; Sugawara, Y.; Morita, S.Appl. Surf. Sci. 1999, 140, 243.
21. Minobe, T.; Uchihashi, T.; Tsukamoto, T.; Orisaka, S.; Sugawara, Y.; Morita, S. Appl. Surf. Sci. 1999, 140, 298.
22. Maeda Y.; Matsumoto, T. Kawai, T. Appl. Surf. Sci. 1999, 140, 400.
23. Meyer, G.; Amer, N. M. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 2089.
24. Sugawara, Y.; Ueyama, H.; Uchihashi, T.; Ohta, M.; Yanase, Y.; Shigematsu, T.; Suzuki, M.; Morita, S. In Defects in Electronic Materials II. Michel, J.; Wada, K.; Thonke, Y. MRS Symp. Proc. 1997, 442, 15.
25. Sugawara, Y.; Ueyama, H.; Uchihashi, T.; Ohta, M.; Yanase, Y.; Shigematsu, T.; Suzuki, M.; Morita, S. In Defects in Electronic Materials II. Michel, J.; Wada, K.; Thonke, Y. MRS Symp. Proc. 1997, 442, 15.
26. Israelachvili, J. N. Intermolecular and Surface Forces; Academic Press: London, 1985.
27. Watson, J. D.; Hopkins, N. H.; Roberts, J. W.; Steits, J. A.; Weiner, A. M. Molecular Biology of the Gene; The Benjamin/Cummings Publishing Company: Reading, MA, 1987.
28. Wong, S. S.; Woolley, A. T.; Odom, T. W.; Huang, J. L.; Kim, P.; Vezenov, D. V.; Lieber, C. M. Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3465.
29. Müller, D. J.; Engel, A. Biophys. J. 1997, 73, 1633.