Real-time observation of temperature rise and thermal breakdown processes in organic LEDs using an IR imaging and analysis system

Advanced Materials

Volumn 12, Issue 4, 2000, Pages 265-269

  Zhou, Xiang ^a   He, Jun ^a   Liao, Liang S ^a   Lu, Ming ^a   Ding, Xun M ^a   Hou, Xiao Y ^a   Zhang, Xiao M ^b   He, Xiao Q ^b   Lee, Shuit T ^c  

^a FUDAN UNIVERSITY   (China)

^b National Key Laboratory of Reliability Physics of Electronic Product   (China)

^c CITY UNIVERSITY OF HONG KONG   (Hong Kong)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALUMINUM COMPOUNDS; AMINES; DECOMPOSITION; ELECTRIC FIELD EFFECTS; ELECTROMIGRATION; HETEROJUNCTIONS; ORGANOMETALLICS; SEMICONDUCTING INDIUM COMPOUNDS; THERMAL EFFECTS; THERMOANALYSIS; THERMOGRAPHY (IMAGING); THERMOGRAPHY (TEMPERATURE MEASUREMENT);

INDIUM TIN OXIDE; JOULE HEATING; ORGANIC LIGHT EMITTING DIODES (OLED); THERMAL BREAKDOWN;

LIGHT EMITTING DIODES;

EID: 0033893326     PISSN: 09359648     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-4095(200002)12:4<265::AID-ADMA265>3.0.CO;2-L     Document Type: Article

References (29)

1. C. W. Tang, S. A. VanSlyke, Appl. Phys. Lett. 1987, 51, 913.
2. J. R. Sheats, H. Antoniadis, M. Hueschen, W. Leonard, J. Miller, R. Moon, D. Roitman, A. Stocking, Science 1996, 273, 884.
3. http://www.uniax.com, http://www.cdtltd.co.uk.
4. P. E. Burrows, V. Bulovic, S. R. Forrest, L. S. Sapochak, D. M. McCarty, M. E. Thompson, Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 2922.
5. P. Fenter, F. Schreiber, V. Bulovic, S. R. Forrest, Chem. Phys. Lett. 1997, 277, 521.
6. N. Tessler, N. T. Harrison, D. S. Thomas, R. H. Friend, Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 732.
7. N. Tessler, Adv. Mater. 1999, 11, 363.
8. H. Antoniadis, M. R. Hueschen, J. McElvain, J. N. Miller, R. L. Moon, D. B. Roitman, J. R. Sheats, Polym. Preprint. 1997, 38, 382.
9. J. McElvain, H. Antoniadis, M. R. Hueschen, J. N. Miller, D. M. Roitman, J. R. Sheats, R. L. Moon, J. Appl. Phys. 1996, 80, 6002.
10. S. Tokito, H. Tanaka, K. Noda, A. Okada, Y. Taga, Polym. Preprint. 1997, 38, 388.
11. S. Tokito, H. Tanaka, K. Noda, A. Okada, Y. Taga, Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 878.
12. S. Tokito, H. Tanaka, K. Noda, A. Okada, Y. Taga, Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1929.
13. S. A. VanSlyke, C. H. Chen, C. W. Tang, Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2160.
14. K. Naito, A. Miura, J. Phys. Chem. 1993, 97, 6240.
15. C. Adachi, K. Nagai, N. Tamoto, Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 2679.
16. M. Fujigira, L. M. Do, C. Ganzorig, A. Koike, T. Kato, Polym. Preprint. 1997, 38, 380.
17. E. Han, L. M. Do, Y. Niidome, M. Fujihira, Thin Solid Films 1996, 273, 202.
18. E. Han, L. M. Do, Y. Niidome, M. Fujihira, Chem. Lett. 1994, 969.
19. L. M. Do, E. M. Han, Y. Niidome, M. Fujihira, T. Kanno, S. Yoshida, A. Maeda, A. J. Ikushima, J. Appl. Phys. 1994, 76, 5118.
20. A. R. Schlatmann, D. Wilms Floet, A. Hilberer, F. Garten, P. J. M. Smulders, T. M. Klapwijk, G. Hadziioannou, Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 1764.
21. E. Gautier, A. Lorin, J. M. Nunzi, Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 1071.
22. C. L. Chao, K. R. Chuang, S. A. Chen, Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2894.
23. W. R. Salaneck, J.-L. Brédas, Adv. Mater. 1996, 8, 48.
24. J. He, M. Lu, X. Zhou, J. R. Cao, K. L. Wang, L. S. Liao, Z. B. Deng, X. M. Ding, X. Y. Hou, Thin Solid Films, in press.
25. L. S. Liao, X. Y. Miao, X. Zhou, Z. H. Xiong, J. He, Z. B. Deng, X. Y. Hou, Prog. Nat. Sci. 1999, 9, 84. (in Chinese)
26. M. Probst, R. Haight, Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 1420.
27. B. H. Cumpston, K. F. Jensen, Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 3941.
28. S. A. Carter, M. Angelopoulos, S. Karg, P. J. Brock, J. C. Scott, Appl. Phys. Lett. 1997, 70, 2067.
29. X. Zhou, J. He, L. S. Liao, M. Lu, Z. H. Xiong, X. M. Ding, X. Y. Hou, F. G. Tao, C. E. Zhou, S. T. Lee, Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 609.