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Volumn 331, Issue 2, 2000, Pages 164-170

Surface resistance of Bi-2212 films and influence of intergrowth

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BISMUTH COMPOUNDS; CARRIER CONCENTRATION; CRITICAL CURRENT DENSITY (SUPERCONDUCTIVITY); DOPING (ADDITIVES); ELECTRIC RESISTANCE; HIGH TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS; OXIDE SUPERCONDUCTORS;

EID: 0033889421     PISSN: 09214534     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0921-4534(99)00627-9     Document Type: Article
Times cited : (2)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.