메뉴 건너뛰기




Volumn 7, Issue 1-2, 2000, Pages 109-114

Emission depth distribution function of Al 2s photoelectrons in Al2O3

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ALUMINUM OXIDE;

EID: 0033819641     PISSN: 0218625X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0218-625X(00)00014-2     Document Type: Article
Times cited : (8)

References (20)
  • 6
    • 0007975323 scopus 로고    scopus 로고
    • 1995 Annual Book of Standards (American Society for Testing and Materials, Philadelphia
    • , vol.306 , pp. 189


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.