Scanning tunneling microscopy of carbon nanotubes

Applied Physics A: Materials Science and Processing

Volumn 69, Issue 3, 1999, Pages 275-281

  Clauss, W ^a  

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BAND STRUCTURE; CARBON; CRYSTAL DEFECTS; CRYSTAL IMPURITIES; CRYSTAL LATTICES; ELECTRONIC PROPERTIES; FERMI LEVEL; MICROSCOPIC EXAMINATION; STRAIN; SURFACE STRUCTURE;

CARBON NANOTUBES; SCANNING FORCE MICROSCOPY;

NANOTUBES;

EID: 0032626917     PISSN: 09478396     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1007/s003390051002     Document Type: Article

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