Mapping of the local confinement potential in semiconductor nanostructures by near-field optical spectroscopy

Physica Status Solidi (B) Basic Research

Volumn 206, Issue 1, 1998, Pages 153-166

  Lienau, Ch ^a   Richter, A ^a   Behme, G ^a   Suptitz M ^a   Elsaesser, T ^a   Ramsteiner, M ^b   Notzel R ^b   Ploog, K H ^b  

^a MAX BORN INSTITUT   (Germany)

^b PAUL DRUDE INSTITUT FÜR FESTKÖRPERELEKTRONIK   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0032361102     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-3951(199803)206:1<153::AID-PSSB153>3.0.CO;2-4     Document Type: Article

References (26)

1. J. CHRISTEN, F. BERTRAM, M. DILGER, R. J. HAUG, K. EBERL, K. KLITZING, and D. BIMBERG, Proc. 23rd Internat. Conf. Physics of Semiconductors, World Scientific Publ. Co., Singapore 1996 (p. 3315).
2. J. CHRISTEN, M. GRUNDMANN, and D. BIMBERG, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2358 (1991).
3. M. E. RUBIN, G. MEDEIROS-RIBEIRO, J. J. O'SHEA, M. A. CHIN, E. Y. LEE, P. M. PETROFF, and V. NARAYANAMURTI, Phys. Rev. Lett. 77, 5268 (1996).
4. C. EDER, J. SMOLINER, and G. STRASSER, Appl. Phys. Lett. 68, 2876 (1996).
5. D. W. POHL, W. DENK, and M. LANZ, Appl. Phys. Lett. 44, 651 (1984).
6. E. BETZIG and J. K. TRAUTMANN, Science 257, 189 (1992).
7. R. NÖTZEL, M. RAMSTEINER, J. MENNIGER, A. TRAMPERT, H.-P. SCHÖNHERR, L. DÄWERITZ, and K. H. PLOOG, Jpn. J. Appl. Phys. 35, L297 (1996).
8. R. NÖTZEL, J. MENNIGER, M. RAMSTEINER, A. RUIZ, H.-P. SCHÖNHERR, and K. H. PLOOG, Appl. Phys. Lett. 68, 1132 (1996).
9. R. NÖTZEL, M. RAMSTEINER, J. MENNIGER, A. TRAMPERT, H.-P. SCHÖNHERR, L. DÄWERITZ, and K. H. PLOOG, Appl. Phys. Lett. 68, 1132 (1996).
10. G. BEHME, A. RICHTER, M. SÜPTITZ, and C. LIENAU, Rev. Sci. Instrum. 68, 3458 (1997).
11. E. BETZIG, J. K. TRAUTMAN, T. D. HARRIS, J. S. WEINER, and R. L. KOSTELAK, Science 251, 1468 (1991).
12. K. KARRAI and R. D. GROBER, Appl. Phys. Lett. 66, 1842 (1995).
13. E. BETZIG, P. L. FINN, and J. S. WEINER, Appl. Phys. Lett. 60, 2484 (1992).
14. P. C. YANG, Y. CHEN, and M. VAEZ-IRVANI, J. Appl. Phys. 71, 2499 (1992).
15. S. MADSEN, N. C. R. JOLME, P. S. RAMANUJAM, S. HVILSTED, J. M. HVAM, and S. SMITH, to be published.
16. G. A. VALOSKOVIC, M. HOLTON, and G. H. MORRISON, Appl. Optics 34, 1215 (1995).
17. A. RICHTER, M. SÜPTITZ, CH. LIENAU, T. ELSAESSER, M. RAMSTEINER, R. NÖTZEL, and K. H. PLOOG, Surface and Interface Anal. 25, 583 (1997).
18. F. ROSSI and E. MOLINARI, Phys. Rev. Lett. 76, 3642 (1996).
19. E. KAPON, D. M. HWANG, and R. BHAT, Phys. Rev. Lett. 63, 430 (1989).
20. F. VOUILLOZ, D. Y. OBERLI, M.-A. DUPERTUIS, A. GUSTAFFSON, F. REINHARDT, and E. KAPON, Phys. Rev. Lett. 78, 1580 (1997).
21. G. GOLDONI, F. ROSSI, E. MOLINARI, and A. FASOLINO, Phys. Rev. B. 55, 7110 (1997).
22. H. HAUG and S. W. KOCH, Quantum Theory of the Optical and Electronic Properties of Semiconductors, World Scientific Publ. Co., Singapore 1997.
23. D. GAMMON, E. S. SNOW, B. V. SHANABROOK, D. S. KATZER, and D. PARK, Science 273, 87 (1996).
24. H. F. HESS, E. BETZIG, T. D. HARRIS, L. N. PFEIFFER, and K. W. WEST, Science 264, 1740 (1994).
25. A. RICHTER, M. SÜPTITZ, CH. LIENAU, T. ELSAESSER, M. RAMSTEINER, R. NÖTZEL, and K. H. PLOOG, Ultramicroscopy, in press.
26. A. RICHTER, G. BEHME, M. SÜPTITZ, CH. LIENAU, T. ELSAESSER, R. NÖTZEL, M. RAMSTEINER, and K. H. PLOOG, Phys. Rev. Lett. 79, 2145 (1997).