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Volumn 16, Issue 1, 1998, Pages 260-264

Plasma process induced surface damage removal

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EID: 0032344714     PISSN: 07342101     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.580980     Document Type: Article
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References (11)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.