Transient measurements with an ultrafast scanning tunneling microscope on semiconductor surfaces

Applied Physics Letters

Volumn 72, Issue 13, 1998, Pages 1644-1646

  Keil, Ulrich D ^a   Jensen, Jacob R ^a   Hvam, Jørn M ^a  

^a TECHNICAL UNIVERSITY OF DENMARK   (Denmark)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0010969442     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.121139     Document Type: Article

References (10)

1. D. Botkin, J. Glass, D. S. Chemla, D. F. Ogletree, M. Salmeron, and S. Weiss, Appl. Phys. Lett. 69, 1321 (1996).
2. R. H. M Groeneveld and H. van Kempen, Appl. Phys. Lett. 69, 2294 (1996).
3. U. D. Keil, J. R. Jensen, and J. M Hvam, J. Appl. Phys. 81, 2929 (1997).
4. S. U. Dankowski, P. Kiesel, B. Knüpfer, M. Kneissl, G. H. Döhler, U. D. Keil, D. R. Dykaar, and R. F. Kopf, Appl. Phys. Lett. 65, 3269 (1994).
5. S. Grafström, J. Kowalski, R. Neumann, O. Probst, and M. Wortge, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 568 (1991).
6. S. Hong, R. Reifenberger, D. B. Janes, D. McInturff, and J. M Woodall, Appl. Phys. Lett. 68, 2258 (1996).
7. U. D. Keil, J. M. Hvam, S. Tautz, S. U. Dankowski, P. Kiesel, and G. H. Döhler, Appl. Phys. Lett. 70, 72 (1997).
8. J. R. Jensen, U. D. Keil, and J. M. Hvam, Appl. Phys. Lett. 70, 2762 (1997).
9. U. D. Keil, J. R. Jensen, and J. M. Hvam, Appl. Phys. Lett. 70, 2625 (1997).
10. T. Dekorsy, H. Auer, H. J. Bakker, H. G. Roskos, and H. Kurz, Phys. Rev. B 53, 4005 (1996).