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Volumn 71, Issue 24, 1997, Pages 3525-3527

Strain induced interface roughness of Si1 - XCx δ layers on Si(001)

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EID: 0005298873     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.120380     Document Type: Article
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References (15)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.