Scanning tunneling microscope controlled diffusion on Ag(1 1 0)

Chemical Physics Letters

Volumn 331, Issue 2-4, 2000, Pages 119-124

  Schulz, J J ^a,b   Koch, R ^a  

^a PAUL DRUDE INSTITUT FÜR FESTKÖRPERELEKTRONIK   (Germany)

^b FREIE UNIVERSITÄT BERLIN   (Germany)

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EID: 0004489616     PISSN: 00092614     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0009-2614(00)01179-9     Document Type: Article

References (26)

1. Binnig G., Rohrer H., Gerber Ch., Weibel E. Phys. Rev. Lett. 49:1982;57.
2. Frohn J., Giesen M., Poensgen M., Wolf J.F., Ibach H. Phys. Rev. Lett. 67:1991;3543.
3. Thibaudau F., Cousty J. Ultramicroscopy. 42-44:1992;511.
4. Kuipers L., Frenken J.W.M. Phys. Rev. Lett. 70:1993;3907.
5. Ozcomert J.S., Pai W.W., Bartelt N.C., Reutt-Robey J.E. Surf. Sci. 293:1993;183.
6. Kuipers L., Hoogeman M.S., Frenken J.W.M., van Beijeren H. Phys. Rev. B. 52:1995;11387.
7. Speller S., Heiland W., Biedermann A., Platzgummer E., Nagl C., Schmid M., Varga P. Surf. Sci. 331-333:1995;1056.
8. Li J., Berndt R., Schneider W.-D. Phys. Rev. Lett. 76:1996;1888.
9. Mugele F., Rettenberger A., Boneberg J., Leiderer P. Surf. Sci. 377-379:1997;62.
10. Mugele F., Rettenberger A., Boneberg J., Leiderer P. Surf. Sci. 400:1998;80.
11. Koch R., Schulz J.J., Rieder K.H. Europhys. Lett. 48:1999;554.
12. Swartzentruber B.S. Phys. Rev. Lett. 76:1996;459.
13. Zambelli T., Trost J., Wintterlin J., Ertl G. Phys. Rev. Lett. 76:1996;795.
14. Linderoth T.R., Horch S., Lægsgaard E., Stensgaard I., Besenbacher F. Phys. Rev. Lett. 78:1997;4978.
15. Horch S., Lorensen H.T., Helveg S., Lægsgaard E., Stensgaard I., Jacobsen K.W., Nørskov J.K., Besenbacher F. Nature. 398:1999;134.
16. Sturmat M., Koch R., Rieder K.H. Phys. Rev. Lett. 77:1996;5071.
17. Sturmat M., Koch R., Rieder K.H. Surf. Sci. 385:1997;L997.
18. Hoogeman M.S., Klik M.A.J., Schlößer D.C., Kuipers L., Frenken J.W.M. Phys. Rev. Lett. 82:1999;1728.
19. Eigler D.M., Schweizer E.K. Nature. 344:1990;524.
20. Meyer G., Neu B., Rieder K.-H. Appl. Phys. A. 60:1995;343.
21. Cuberes M.T., Schlittler R.R., Gimzewski J.K. Appl. Phys. Lett. 69:1996;3016.
22. Bartels L., Meyer G., Rieder K.H. Phys. Rev. Lett. 79:1997;697.
23. D. Hull, D.J. Bacon, in: W.S. Owen (Ed.), Introduction to Dislocations, third ed., Pergamon Press, Oxford, 1984.
24. Haase O., Borbonus M., Muralt P., Koch R., Rieder K.H. Rev. Sci. Instr. 61:1990;1480.
25. Liu C.L., Cohen J.M., Adams J.B., Voter A.F. Surf. Sci. 253:1991;334.
26. Li J.T., Schneider W.-D., Berndt R. Appl. Phys. A. 66:1998;S675.