Scanning tunneling microscopy artifact and real structure: Steps of Ag(110)

Europhysics Letters

Volumn 48, Issue 5, 1999, Pages 554-560

  Koch, R ^b   Schulz, J J ^a   Rieder, K H ^a  

^a FREIE UNIVERSITÄT BERLIN   (Germany)

^b PAUL DRUDE INSTITUT FÜR FESTKÖRPERELEKTRONIK   (Germany)

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EID: 0033474687     PISSN: 02955075     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1209/epl/i1999-00519-4     Document Type: Article

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