Electric field induced surface modification of Au

Journal of Applied Physics

Volumn 85, Issue 12, 1999, Pages 8170-8177

  Mayer, T M ^a   Houston, J E ^a   Franklin, G E ^a   Erchak, A A ^a   Michalske, T A ^a  

^a SANDIA NATIONAL LABORATORIES   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001552343     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.370656     Document Type: Article

References (40)

1. H. J. Mamin, P. H. Guethner, and D. Rugar, Phys. Rev. Lett. 65, 2418 (1990).
2. H. J. Mamin, S. Chiang, H. Birk, P. H. Guethner, and D. Rugar, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 1398 (1991).
3. H. J. Mamin and D. Rugar, in Scanning Probe Microscopy, edited by H. K. Wickramasinghe (American Institute of Physics, New York, 1992), Vol. 241, p. 462.
4. J. I. Pascual, J. Mendez, J. Gomez-Herrero, A. M. Baro, and N. Garcia, Phys. Rev. Lett. 71, 1852 (1993).
5. H. J. Mamin and D. Rugar, Phys. Rev. Lett. 72, 1128 (1994).
6. J. I. Pascual, J. Mendez, J. Gomez-Herrero, A. M. Baro, N. Garcia, and V. T. Binh, Phys. Rev. Lett. 72, 1129 (1994).
7. C. X. Guo and D. J. Thomson, Ultramicroscopy 42-44, 1452 (1992).
8. T. C. Chang, C. S. Chang, H. N. Lin, and T. T. Tsong, Appl. Phys. Lett. 67, 903 (1995).
9. L. Libioulle, Y. Houbion, and J.-M. Gilles, J. Vac. Sci. Technol. B 13, 1325 (1995).
10. R. Koning, O. Jusko, L. Koenders, and A. Schlachetzki, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 48 (1996).
11. T. T. Tsong, Phys. Rev. B 44, 13703 (1991).
12. J. Mendez, J. Gomez-Herrero, J.I. Pascual, J. J. Saenz, J. M. Soler, and A. M. Baro, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 1145 (1996).
13. T. T. Tsong and G. L. Kellogg, Phys. Rev. B 12, 1343 (1975).
14. G. L. Kellogg and T. T. Tsong, Surf. Sci. 62, 343 (1977).
15. W. P. Dyke and W. W. Dolan, in Advances in Electronics and Electron Physics, edited by L. Marton (Academic, New York, 1956), Vol. 8, p. 89.
16. J. Lyubinetsky, S. Mezhenny, and J. T. Yates, J. Vac. Sci. Technol. A (in press).
17. S. A. Joyce and J. E. Houston, Rev. Sci. Instrum. 62, 710 (1991).
18. S. A. Joyce, R. C. Thomas, J. E. Houston, T. A. Michalske, and R. M. Crooks, Phys. Rev. Lett. 68, 2790 (1992).
19. P. Tangyunyong, R. C. Thomas, J. E. Houston, T. A. Michalske, R. M. Crooks, and A. J. Howard, Phys. Rev. Lett. 71, 3319 (1993).
20. P. Tangyunyong, R. C. Thomas, J. E. Houston, T. A. Michalske, R. M. Crooks, and A. J. Howard, J. Adhesion Sci. Technol. 8, 897 (1994).
21. R. C. Thomas, J. E. Houston, T. A. Michalske, and R. M. Crooks, Science 259, 1883 (1993).
22. R. C. Thomas, P. Tangyunyong, J. E. Houston, T. A. Michalske, and R. M. Crooks, J. Phys. Chem. 98, 4493 (1994).
23. R. C. Thomas, J. E. Houston, R. M. Crooks, T. Kim, and T. A. Michalske, J. Am. Chem. Soc. 117, 3830 (1995).
24. J. E. Houston, T. A. Michalske, and R. M. Crooks, in Interfacial Adhesion at the Molecular Level, Hilton-Head, SC, 1997 (The Adhesion Society), pp. 31-33.
25. G. I. Taylor, Proc. R. Soc. London Ser. A 280, 383 (1914).
26. R. Gomer, Appl. Phys. 19, 365 (1979).
27. M. Lax, J. Appl. Phys. 48, 3919 (1977).
28. T. M. Mayer, D. P. Adams, and B. M. Marder, J. Vac. Sci. Technol. B 14, 2438 (1996).
29. CRC Handbook of Chemistry and Physics, edited by D. R. Lide (Chemical Rubber Corp., Boca Raton, FL, 1998).
30. K. L. Johnson, Contact Mechanics (Cambridge University Press, Cambridge, 1985).
31. J. D. Kiely and J. E. Houston, Phys. Rev. B 57, 12588 (1998).
32. T. A. Michalske and J. E. Houston, Acta Materialia 46, 391 (1998).
33. G. L. Kellogg, Surf. Sci. Rep. 21, 1 (1994).
34. L. J. Whitman, J. A. Stroscio, R. H. Dragoset, and R. J. Celotta, Science 251, 1206 (1991).
35. C. Girard, C. Joachim, C. Chavy, and P. Sautet, Surf. Sci. 282, 400 (1993).
36. G. L. Kellogg, Phys. Rev. Lett. 70, 1631 (1993).
37. T. Kawai and K. Watanabe, Surf. Sci. 357-358, 830 (1996).
38. H. Cabibil, J. E. Houston, T. M. Mayer, and G. F. Franklin, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 522, 463 (1998).
39. G. L. Kellogg (private communication, 1998).
40. B. S. Swartzentruber, A. P. Smith, and H. Jonsson, Phys. Rev. Lett. 77, 2518 (1996).