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Volumn 75, Issue 19, 1999, Pages 2909-2911

High-quality Ge epilayers on Si with low threading-dislocation densities

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EID: 0001398969     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.125187     Document Type: Article
Times cited : (686)

References (11)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.