Electronic properties of the Ga vacancy in GaP(110) surfaces determined by scanning tunneling microscopy

Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics

Volumn 58, Issue 3, 1998, Pages 1401-1404

  Ebert, Ph ^a   Urban, K ^a  

^a FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001246183     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.58.1401     Document Type: Article

References (30)

1. M. B. Johnson, O. Albreksen, R. M. Feenstra, and H. W. M. Salemink, Appl. Phys. Lett. 63, 2923 (1993).
2. Appl. Phys. Lett.M. B. JohnsonO. AlbreksenR. M. FeenstraH. W. M. Salemink64, 1454(E) (1994).
3. R. M. Feenstra, J. M. Woodall, and G. Pettit, Phys. Rev. Lett. 71, 1176 (1993).
4. Ph. Ebert, M. G. Lagally, and K. Urban, Phys. Rev. Lett. 70, 1437 (1993).
5. J. F. Zheng, X. Liu, N. Newman, E. R. Weber, D. F. Ogletree, and M. Salmeron, Phys. Rev. Lett. 72, 1490 (1994).
6. C. Domke, Ph. Ebert, M. Heinrich, and K. Urban, Phys. Rev. B 54, 10 288 (1996).
7. J. Gebauer, R. Krause-Rehberg, C. Domke, Ph. Ebert, and K. Urban, Phys. Rev. Lett. 78, 3334 (1997).
8. G. Lengel, R. Wilkins, G. Brown, M. Weimer, J. Gryko, and R. E. Allen, Phys. Rev. Lett. 72, 836 (1994).
9. Ph. Ebert, K. Urban, and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 72, 840 (1994).
10. Ph. Ebert and K. Urban, Ultramicroscopy 49, 344 (1993).
11. S. Gwo, A. R. Smith, and C. K. Shih, J. Vac. Sci. Technol. A 11, 1644 (1993).
12. Ph. Ebert, M. Heinrich, M. Simon, K. Urban, and M. G. Lagally, Phys. Rev. B 51, 9696 (1995).
13. K.-J. Chao, A. R. Smith, and C. K. Shih, Phys. Rev. B 53, 6935 (1996).
14. Ph. Ebert, M. Heinrich, M. Simon, C. Domke, K. Urban, C. K. Shih, M. B. Webb, and M. G. Lagally, Phys. Rev. B 53, 4580 (1996).
15. Ph. Ebert, M. Heinrich, K. Urban, K.-J. Chao, A. R. Smith, and C. K. Shih, J. Vac. Sci. Technol. A 14, 1807 (1996).
16. Ph. Ebert, Xu Chen, M. Heinrich, M. Simon, K. Urban, and M. G. Lagally, Phys. Rev. Lett. 76, 2089 (1996).
17. H. Kim and J. R. Chelikowsky, Phys. Rev. Lett. 77, 1063 (1996).
18. S. B. Zhang and A. Zunger, Phys. Rev. Lett. 77, 119 (1996).
19. G. Cox, K. H. Graf, D. Szynka, U. Poppe, and K. Urban, Vacuum 41, 591 (1990).
20. G. Lengel, R. Wilkins, G. Brown, and M. Weimer, J. Vac. Sci. Technol. B 11, 1472 (1993).
21. G. Lengel, R. Wilkins, M. Weimer, J. Gryko, and R. E. Allen, in Proceedings of the 22nd International Conference on the Physics of Semiconductors, Vancouver, BC, Canada, 15-19 August 1994, edited by D. J. Lockwood (World Scientific, Singapore, 1995), p. 479.
22. G. Schwarz, A. Kley, J. Neugebauer, and M. Scheffler, preceding paper, Phys. Rev. B 58, 1392 (1998).
23. Ph. Ebert and K. Urban, Surf. Sci. 287/288, 891 (1993).
24. R. M. Feenstra, J. A. Stroscio, J. Tersoff, and A. P. Fein, Phys. Rev. Lett. 58, 1192 (1987).
25. L. J. Whitman, J. A. Stroscio, R. A. Dragoset, and R. J. Celotta, Phys. Rev. B 42, 7288 (1990).
26. L. J. WhitmanJ. A. StroscioR. A. DragosetR. J. CelottaJ. Vac. Sci. Technol. B 9, 770 (1991).
27. Ph. Ebert, B. Engels, P. Richard, K. Schroeder, S. Blügel, C. Domke, M. Heinrich, and K. Urban, Phys. Rev. Lett. 77, 2997 (1996).
28. J. A. Stroscio, R. M. Feenstra, and A. P. Fein, Phys. Rev. Lett. 58, 1668 (1987).
29. R. J. Hamers, J. Vac. Sci. Technol. B 6, 1462 (1988).
30. J. Tersoff and D. R. Hamann, Phys. Rev. B 31, 805 (1985).