Dependence of (0001) GaN/AlN valence band discontinuity on growth temperature and surface reconstruction

Journal of Applied Physics

Volumn 84, Issue 4, 1998, Pages 2086-2090

  King, S W ^a   Ronning, C ^a   Davis, R F ^a   Benjamin, M C ^b   Nemanich, R J ^b  

^a North Carolina State University   (United States)

^b NORTH CAROLINA STATE UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0000999006     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.368355     Document Type: Article

References (27)

1. R. F. Davis, Proc. IEEE 79, 702 (1991).
2. J. H. Edgar, J. Mater. Res. 7, 235 (1992).
3. S. N. Mohammed, A. A. Salvador, and H. Morkoc, Proc. IEEE 83, 1306 (1995).
4. A. Morgan and J. Williams, in Physics and Technology of Heterojunction Devices (Wiley, New York, 1985), pp. 241-244.
5. G. Martin, S. Strite, A. Botchkarev, A. Agarwal, A. Rockett, H. Morkoc, W. R. L. Lambrecht, and B. Segall, Appl. Phys. Lett. 65, 610 (1994); J. Electron. Mater. 24, 225 (1995).
6. G. Martin, S. Strite, A. Botchkarev, A. Agarwal, A. Rockett, H. Morkoc, W. R. L. Lambrecht, and B. Segall, Appl. Phys. Lett. 65, 610 (1994); J. Electron. Mater. 24, 225 (1995).
7. G. Martin, A. Botchkarev, A. Rockett, and H. Morkoc, Appl. Phys. Lett. 86, 2541 (1996).
8. Z. Sitar, M. J. Paisley, B. Yan, R. F. Davis, J. Ruan, and J. W. Choyke, Thin Solid Films 200, 311 (1991).
9. J. R. Waldrop and R. W. Grant, Appl. Phys. Lett. 68, 2879 (1996).
10. J. Baur, K. Maier, M. Kunzer, U. Kaufmann, and J. Schneider, Appl. Phys. Lett. 65, 2211 (1994).
11. J. Baur, K. Maier, M. Kunzer, and U. Kaufmann, Mater. Sci. Eng., B 29, 61 (1995).
12. S. H. Wei and A. Zunger, Appl. Phys. Lett. 69, 2719 (1996).
13. E. A. Albensi, W. R. L. Lambrecht, and B. Segall, J. Vac. Sci. Technol. B 12, 2470 (1994).
14. M. B. Nardelli, K. Rapcewicz, and J. Bernholc, Phys. Rev. B 55, R7323 (1997); J. Vac. Sci. Technol. B 15, 1144 (1997).
15. M. B. Nardelli, K. Rapcewicz, and J. Bernholc, Phys. Rev. B 55, R7323 (1997); J. Vac. Sci. Technol. B 15, 1144 (1997).
16. S. Ke, K. Zhang, and X. Xie, J. Appl. Phys. 80, 2918 (1996).
17. S. W. King, M. C. Benjamin, R. J. Nemanich, and R. F. Davis (unpublished).
18. J. van der Weide, Ph.D. dissertation, North Carolina State University (1994).
19. R. Kaplan, Surf. Sci. 215, 111 (1989).
20. R. S. Kern, Ph.D. dissertation, North Carolina State University (1996).
21. E. A. Kraut, R. W. Grant, J. R. Waldrop, and S. P. Kowalczyk, Phys. Rev. Lett. 44, 1620 (1980).
22. S. Krishnankutty, R. M. Kolbas, M. A. Khan, J. N. Kuznia, J. M. Van Hove, and D. T. Olson, J. Electron. Mater. 21, 437 (1992).
23. V. M. Bermudez, T. M. Jung, K. Doverspike, and A. E. Wickenden, J. Appl. Phys. 79, 110 (1996).
24. V. M. Bermudez, J. Appl. Phys. 80, 1190 (1996).
25. R. W. Hunt, L. Vanzetti, T. Castro, K. M. Chen, L. Sorba, P. I. Cohen, W. Gladfelter, J. M. van Hove, J. N. Kuznia, M. A. Kahn, and A. Franciosi, Physica B 185, 415 (1993).
26. J. Ma, B. Garni, N. Perkins, W. L. O'Brien, T. F. Kuech, and M. G. Lagally, Appl. Phys. Lett. 69, 3351 (1996).
27. S. S. Dhesi, C. B. Stagarescu, and K. E. Smith, Phys. Rev. B 56, 10271 (1997).