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Volumn 16, Issue 3, 1998, Pages 1568-1574

X-ray scattering analysis of interface roughness and diffusion

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EID: 0000826036     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.589941     Document Type: Article
Times cited : (19)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.